超音波診断装置、および、減衰特性計測方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人山王坂特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-546453
特許番号：特許第6457107号
出願日： 2016年09月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】探触子と、前記探触子から撮像範囲内の対象物に対して第1および第2の超音波ビームを送信させる送信部と、前記対象物からの超音波を受信した前記探触子の出力から、前記対象物の所定の計測点について前記第1および第2の超音波ビームによる受信信号をそれぞれ得る受信部と、前記対象物の組織の減衰特性を算出する減衰特性算出部とを有し、前記第1の超音波ビームと前記第2の超音波ビームは、周波数および焦点深さがそれぞれ異なり、前記減衰特性算出部は、前記所定の計測点についての前記第1の超音波ビームによる受信信号と前記第2の超音波ビームによる受信信号とを用いて前記対象物の減衰特性を求めることを特徴とする超音波診断装置。

IPC (1件)：