特許
J-GLOBAL ID：201903017776108866
放射線強度分布測定システム及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-064696
公開番号（公開出願番号）：特開2017-181114
特許番号：特許第6591332号
出願日： 2016年03月28日
公開日（公表日）： 2017年10月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】対象物の可視画像を取得する可視画像取得手段、及び前記対象物から入射する放射線強度分布を検知する放射線検知手段を備えた放射線測定装置と、
前記対象物の3次元位置を示した点群データを記録する3Dデータ記録装置と、
任意視点からの画像を前記3Dデータ記録装置の前記点群データから仮想的に作成して仮想画像とする仮想画像作成装置と、
前記放射線測定装置からの前記可視画像と前記仮想画像作成装置からの前記仮想画像とを比較し、これらの両画像のそれぞれで濃淡が変化する前記対象物のエッジを検出し、このエッジから求めた抽出箇所を含む領域のうちで前記エッジの形状が最も類似した前記抽出箇所を前記対象物の同一箇所を表わす対応位置として前記両画像のそれぞれで求める画像比較装置と、
前記可視画像上の3点以上の前記対応位置の3次元位置と、これらの位置にそれぞれ対応する前記仮想画像上の前記対応位置の3次元位置とから、幾何学的な関係に基づいて前記放射線測定装置の測定位置を計算して推定する測定位置推定装置と、
前記測定位置推定装置で推定された測定位置に基づいて、前記放射線測定装置で検知された放射線強度分布を前記3Dデータ記録装置の前記点群データに投影する投影装置と、を有して構成されたことを特徴とする放射線強度分布測定システム。
IPC (2件)：
G01T 1/16 ( 200 6.01)
, G01T 1/29 ( 200 6.01)
G01T 1/16 A
, G01T 1/29 C
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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