特許
J-GLOBAL ID:201903017934120798
検査支援装置、検査支援方法およびプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
松沼 泰史
, 伊藤 英輔
, 橋本 宏之
, 古都 智
, 鎌田 康一郎
, 長谷川 太一
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2016080932
公開番号(公開出願番号):WO2018-073908
出願日: 2016年10月19日
公開日(公表日): 2018年04月26日
要約:
検査支援装置が、対象物品の損傷を表す描画である損傷描画の入力を受け付ける損傷描画入力部と、前記損傷描画と前記対象物品を図示した対象図面とを重ね合わせて表示する表示部と、入力された前記損傷描画を、前記対象図面に関連付けて、前記対象図面と別個に記録する記録部とを備える。
請求項(抜粋):
対象物品の損傷を表す描画である損傷描画の入力を受け付ける損傷描画入力部と、
前記損傷描画と前記対象物品を図示した対象図面とを重ね合わせて表示する表示部と、
入力された前記損傷描画を、前記対象図面に関連付けて、前記対象図面と別個に記録する記録部と
を備える検査支援装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (6件):
2G051AA88
, 2G051AB02
, 2G051CA12
, 2G051EA21
, 2G051EB01
, 2G051FA02
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