特許
J-GLOBAL ID:201903020927353524

SHG顕微鏡及びSHG光を観察する方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 木村 満 ,  毛受 隆典 ,  森川 泰司 ,  宮本 一浩 ,  金森 毅
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-167219
公開番号(公開出願番号):特開2019-045625
出願日: 2017年08月31日
公開日(公表日): 2019年03月22日
要約:
【課題】小型軽量で、高いS/N比でSHG光を観察できるSHG顕微鏡及びSHG光の観察方法を提供する。【解決手段】フェムト秒パルスレーザを照明光とする。照明光を偏光子14とバンドパスフィルタ13を通過させて、斜め方向から試料30に照射する。照明光LAの正反射光LBが対物レンズ21に入射しないように光路を設定する。試料30が発するSHG光を対物レンズ21で集光する。集光したSHG光をバンドパスフィルタ23を通過させ、自然光等のノイズ光成分を減衰する。さらに、SHG光を、検光子24を通過させ、偏光子14を通過して偏光している照明光の成分を除去する。バンドパスフィルタ23と検光子24とを通過した光を接眼レンズ22で集光して撮像素子20に結像させる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
単一の波長成分を有するパルス光を試料に照射する照射手段と、 前記パルス光の光路上に配置された偏光子と、 前記試料から発した光が入射する対物レンズと、 前記対物レンズに対向して配置された接眼レンズと、 前記対物レンズと前記接眼レンズの間の光路上に配置された検光子と、 を有し、 前記対物レンズと前記検光子と前記接眼レンズとは、前記パルス光の試料表面での正反射光が入射する位置とは異なる位置に配置されている、 SHG顕微鏡。
IPC (2件):
G02B 21/06 ,  G01N 21/63
FI (2件):
G02B21/06 ,  G01N21/63 Z
Fターム (29件):
2G043AA03 ,  2G043EA10 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA02 ,  2G043GA04 ,  2G043GB03 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA07 ,  2G043HA15 ,  2G043JA02 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA07 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043MA11 ,  2G043NA05 ,  2H052AA01 ,  2H052AC09 ,  2H052AC12 ,  2H052AC34 ,  2H052AD34 ,  2H052AF14

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