研究者
J-GLOBAL ID:202001000577309082   更新日: 2025年06月21日

三谷 祐一郎

ミタニ ユウイチロウ | MITANI YUICHIRO
所属機関・部署:
職名: 教授
研究分野 (2件): 電子デバイス、電子機器 ,  電子デバイス、電子機器
研究キーワード (4件): 不揮発性メモリ ,  デバイス信頼性 ,  ナノエレクトロニクス ,  電子デバイス
競争的資金等の研究課題 (3件):
  • 2022 - 2025 原子状水素を用いたシリコン窒化薄膜のナノ欠陥制御と信頼性向上に関する研究
  • 2022 - 2024 マイクロ波励起プラズマ処理によるシリコン窒化膜中水素濃度分布制御と電圧駆動型固体素子ニューロンの開発
  • 1999 - 2000 趙微粒子制御クリーニング基礎技術
論文 (122件):
  • Rei Kusunose, Takao Marukame, Ryoichi Kawai, Yuichiro Mitani, Alexandre Schmid, Kota Ando, Tetsuya Asai. Split weight distribution learning for binary neural networks exploiting nano-memristive graphene/sumanene/graphene devices. Japanese Journal of Applied Physics. 2025. 64. 4. 04SP05-04SP05
  • Yoshiharu Kirihara, Haruto Omata, Akira Yasui, Kiyokazu Nakagawa, Yuichiro Mitani, Hiroshi Nohira. Evaluation of the effect of hydrogen plasma treatment on the chemical bonding state and distribution of hydrogen in silicon nitride films by angle-resolved hard X-ray photoelectron spectroscopy. Japanese Journal of Applied Physics. 2025. 64. 1. 01SP29-01SP29
  • 三谷 祐一郎. 三次元フラッシュメモリ技術とニューラルネットワーク応用. 電子情報通信学会誌. 2024. 107. 4. 296-303
  • Tomoya Tsutsumi, Kazuki Goshima, Yoshiharu Kirihara, Tatsuki Okazaki, Akira Yasui, Kuniyuki Kakushima, Yuichiro Mitani, Hiroshi Nohira. Effects of plasma oxidation and plasma nitridation on chemical bonding state of AlScN evaluated by AR-HAXPES. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 4. 04SP66-04SP66
  • Eito Ashihara, Ryoichi Kawai, Ryousuke Ishikawa, Yuichiro Mitani. Resistive switching memory using buckybowl sumanene-inserted bilayer graphene. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 4. 04SP35-04SP35
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MISC (10件):
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特許 (98件):
  • Individual identification device, storage device, individual identification system, method of individual identification, and program product
  • 復号装置、復号方法およびメモリシステム
  • メモリシステムおよび制御方法
  • 認証システム、認証装置および認証方法
  • Information processing system and semiconductor device
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書籍 (1件):
  • 薄膜作製応用ハンドブック
    エヌ・ティー・エス 2020 ISBN:9784860436315
講演・口頭発表等 (127件):
  • 極低温下におけるnMOSFETのチャネルホットキャリア(CHC)劣化とF-Nストレス劣化の相違
    (第72回応用物理学会春季学術講演会 2025)
  • 極低温下のMOSFET劣化における2種類の固定電荷生成
    (第72回応用物理学会春季学術講演会 2025)
  • ナノ抵抗変化メモリデバイスを用いたバイナリニューラルネットワークに向けた重み分布分裂学習
    (72回応用物理学会春季学術講演会 2025)
  • フッ化グラフェンの電荷捕獲機構の考察 -プラズマを用いたCVDグラフェンのフッ化とその構造-
    (第72回応用物理学会春季学術講演会 2025)
  • フラッシュランプアニール処理によるSiO2薄膜の改質の評価
    (第72回応用物理学会春季学術講演会 2025)
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学歴 (4件):
  • - 2009 東京大学 工学部 工学博士(論文博士)
  • 1990 - 1992 東北大学 大学院工学研究科 材料物性学専攻
  • 1986 - 1990 東北大学 工学部 材料物性学科
  • 1983 - 1986 東京都立西高等学校
経歴 (10件):
  • 2020/04 - 現在 東京都市大学 理工学部 電気電子通信工学科 教授
  • 2019/10 - 2020/03 キオクシア株式会社 メモリ技術研究所、デバイス技術センター 新規メモリ開発部 グループ長
  • 2019/04 - 2019/09 東芝メモリ株式会社 メモリ技術研究所、デバイス技術センター 新規メモリ開発部 グループ長
  • 2017/10 - 2019/03 東芝メモリ株式会社 メモリ技術研究所、デバイス技術センター 新規メモリ開発部 主幹
  • 2012/07 - 2017/09 株式会社東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリ 研究主幹
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委員歴 (21件):
  • 2022/05 - 現在 International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES - SCIENCE AND TECHNOLOGY - Program Committee Vice Chairperson
  • 2020/04 - 現在 International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC) Nanodevices Technical Committee member
  • 2009/05 - 現在 IEEE International Conference on IC Design & Technology (ICICDT) Reliability Session Chair
  • 2020/10 - 2024/04 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Memory Reliability Technical Committee member
  • 2020/06 - 2023/06 IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing (EDTM) Semiconductor Devices sub-committee
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受賞 (3件):
  • 2023/11 - International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES - SCIENCE AND TECHNOLOGY - Young Researcher Award
  • 2017/11 - 2017 International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES - SCIENCE AND TECHNOLOGY - Young Award Experimental Evidence of Trap Level Modulation in SiN Thin Film by Hydrogen Annealing
  • 2017/04 - IEEE International Conference on IC Design & Technology (ICICDT) 功績賞
所属学会 (2件):
IEEE ,  応用物理学会
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