研究者
J-GLOBAL ID:202001011203545221   更新日: 2024年02月01日

翁 銭春

オウ センシュン | Weng Qianchun
所属機関・部署:
職名: さきがけ研究者
研究分野 (4件): 薄膜、表面界面物性 ,  半導体、光物性、原子物理 ,  計測工学 ,  電子デバイス、電子機器
研究キーワード (5件): ナノ熱計測 ,  単一光子検出器 ,  近接場光学顕微鏡 ,  半導体量子デバイス ,  非平衡輸送
競争的資金等の研究課題 (4件):
  • 2020 - 2024 ノイズの画像化によるトポロジカル材料の電子ダイナミクスの解明
  • 2020 - 2023 電子温度と格子温度のナノ計測による非平衡エネルギーダイナミクスの解明
  • 2019 - 2021 新しい原理のテラヘルツ単一光子検出器の開発
  • 2016 - 2019 テラヘルツナノスコピーによる非平衡ダイナミクスの解析
論文 (18件):
  • Kuan-Ting Lin, Qianchun Weng, Sunmi Kim, Susumu Komiyama, Yusuke Kajihara. Development of a cryogenic passive-scattering-type near-field optical microscopy system. Review of Scientific Instruments. 2023. 94. 2. 023701-023701
  • Qianchun Weng, Le Yang, Zhenghua An, Pingping Chen, Alexander Tzalenchuk, Wei Lu, Susumu Komiyama. Quasiadiabatic electron transport in room temperature nanoelectronic devices induced by hot-phonon bottleneck. Nature Communications. 2021. 12. 1. 4752
  • Kuan-Ting Lin, Hirofumi Nema, Qianchun Weng, Sunmi Kim, Kenta Sugawara, Taiichi Otsuji, Susumu Komiyama, Yusuke Kajihara. Nanoscale probing of thermally excited evanescent fields in an electrically biased graphene by near-field optical microscopy. Applied Physics Express. 2020. 13. 9. 096501-096501
  • Qianchun Weng, Vishal Panchal, Kuan-Ting Lin, Liaoxin Sun, Yusuke Kajihara, Alexander Tzalenchuk, Susumu Komiyama. Comparison of active and passive methods for the infrared scanning near-field microscopy. Applied Physics Letters. 2019. 114. 15. 153101-153101
  • Tianxin Li, Qianchun Weng, Jian Lu, Hui Xia, Zhenghua An, Zhanghai Chen, Pingping Chen, Wei Lu. Single photon detection and circular polarized emission manipulated with individual quantum dot. Acta Physica Sinica. 2018. 67. 22. 227301
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講演・口頭発表等 (10件):
  • Direct visualization of energy transport and dissipation in nanoscale systems
    (日本物理学会領域9シンポジウム 2022)
  • Imaging quasiadiabatic hot electron transport induced by hot-phonon bottleneck
    (24th International Conference on Electronic Properties of Two-Dimensional Systems (EP2DS) 2021)
  • IR/THz Scanning Near-field Microscopy without external illumination
    (The 12th International Conference on Information Optics and Photonics 2021)
  • 走査雑音顕微鏡 (SNoiM)
    (プローブ顕微鏡研究部会 合同シンポジウム 2021)
  • Nanoscopy of charge fluctuations in matter - Scanning Noise Microscope (SNoiM) -
    (東京大学 物性研究所 ナノサイエンスセミナー 2019)
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学歴 (1件):
  • 2011 - 2016 華東師範大学 電子工学部 博士課程
経歴 (6件):
  • 2022/04 - 現在 国立研究開発法人科学技術振興機構 さきがけ研究者
  • 2020/11 - 2022/03 国立研究開発法人 科学技術振興機構 さきがけ研究員(兼任)
  • 2019/04 - 2022/03 国立研究開発法人 理化学研究所 開拓研究本部 基礎科学特別研究員
  • 2018/09 - 2019/03 東京大学 生産技術研究所 特任研究員
  • 2016/09 - 2018/08 東京大学 生産技術研究所 JSPS外国人特別研究員
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受賞 (4件):
  • 2022 - 花王芸術・科学財団 花王科学奨励賞
  • 2020 - 一般財団法人 エヌエフ基金 第9回研究開発奨励賞
  • 2018 - 中国のレーザープレス 中国光学分野の10大ブレークスルー
  • 2016 - WE-Heraeus-Seminar 優秀ポスター賞
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