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J-GLOBAL ID:202002210089610728   整理番号:20A1437424

トップMgO障壁厚みに依存する二重ピン止め垂直磁気トンネル接合スピンバルブのマルチレベル抵抗均一性【JST・京大機械翻訳】

Multi-level resistance uniformity of double pinned perpendicular magnetic-tunnel-junction spin-valve depending on top MgO barrier thickness
著者 (8件):
資料名:
巻: 10  号:ページ: 065126-065126-7  発行年: 2020年 
JST資料番号: U7121A  ISSN: 2158-3226  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ストレージクラスメモリとして,垂直スピントルク転送磁気ランダムアクセスメモリ(p-STT MRAM)を利用するために,p-STT MRAMの統合密度を増加させるのに,マルチレベルセル(MLC)動作を実行する達成が重要である。MLC(すなわち4抵抗レベル)動作を行う二重ピン止め垂直磁気トンネル接合スピンバルブに対して,4レベル抵抗間の抵抗差の均一性を理論的および実験的に調べた。4レベル抵抗間の抵抗差の均一性は,トップMgOトンネル障壁厚さに強く依存した。特に,4つの抵抗状態の間の最も均一な抵抗差を,臨界トップ-MgOトンネル厚さ(すなわち~1.15nm)で達成できた。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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半導体集積回路  ,  磁電デバイス 

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