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J-GLOBAL ID：202002210205699216   整理番号：20A1080331

シンクロトロン放射を用いたトライボロジー表面の直接シラノール分析【JST・京大機械翻訳】

Direct silanol analysis of tribological surfaces using synchrotron radiation

著者 (10件)： Takahashi Naoko Takechi (Toyota Central R&D Labs. Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) ,  Takahashi Naoko Takechi (Nagoya Institute of Technology, Gokiso-cho, Showa-ku, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan) ,  Isomura Noritake (Toyota Central R&D Labs. Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) ,  Kosaka Satoru (Toyota Central R&D Labs. Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) ,  Mori Hiroyuki (Toyota Central R&D Labs. Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) ,  Kimoto Yasuji (Toyota Central R&D Labs. Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) ,  Ohmori Toshihide (Toyota Central R&D Labs. Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) ,  Aoyama Takayuki (Toyota Central R&D Labs. Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan) ,  Sano Toshinari (Toyota Motor Corporation, 1 Toyota-Cho, Toyota, Aichi 471-8571, Japan) ,  Itoigawa Fumihiro (Nagoya Institute of Technology, Gokiso-cho, Showa-ku, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
資料名： Tribology International  (Tribology International)
巻： 148  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： E0409B  ISSN： 0301-679X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコンを含むトライボロジー材料には,シラノールのための新しい直接検出技術が必要である。近吸収端X線吸収微細構造(NEXAFS)に焦点を当てた。これは,シラノールを直接検出する方法としてシンクロトロン放射を用いる。モデル試料を調製し,それらのスペクトルをNEXAFSにより得た。シラノールのSiとO K端スペクトルは,それぞれ約1843eVと535eVにピークを示した。次に,シリコン含有ダイヤモンド状炭素(DLC-Si)膜の表面を測定した。低摩擦係数を有する高シリコンドープDLC上のシラノールの量は,低シリコンドープDLC上のそれよりも大きいことが分かった。本研究では,DLC-Si膜の表面上のシラノールが直接検出され,NEXAFSにより同定されることを示した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *シンクロトロン放射 ,  摩擦係数 ,  ケイ素 ,  スペクトル ,  検出法 ,  *トライボロジー ,  *シラノール ,  吸収端 ,  XAFS
準シソーラス用語： NEXAFS , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： シラノール ,  シンクロトロン放射 ,  近吸収端X線吸収微細構造(NEXAFS) ,  シリコン含有ダイヤモンド状炭素(DLC-Si)

分類 (1件)： 潤滑一般  (QB02010S)

タイトルに関連する用語 (4件)： シンクロトロン放射 ,  トライボロジー ,  シラノール ,  分析