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J-GLOBAL ID:202002210205699216   整理番号:20A1080331

シンクロトロン放射を用いたトライボロジー表面の直接シラノール分析【JST・京大機械翻訳】

Direct silanol analysis of tribological surfaces using synchrotron radiation
著者 (10件):
資料名:
巻: 148  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: E0409B  ISSN: 0301-679X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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シリコンを含むトライボロジー材料には,シラノールのための新しい直接検出技術が必要である。近吸収端X線吸収微細構造(NEXAFS)に焦点を当てた。これは,シラノールを直接検出する方法としてシンクロトロン放射を用いる。モデル試料を調製し,それらのスペクトルをNEXAFSにより得た。シラノールのSiとO K端スペクトルは,それぞれ約1843eVと535eVにピークを示した。次に,シリコン含有ダイヤモンド状炭素(DLC-Si)膜の表面を測定した。低摩擦係数を有する高シリコンドープDLC上のシラノールの量は,低シリコンドープDLC上のそれよりも大きいことが分かった。本研究では,DLC-Si膜の表面上のシラノールが直接検出され,NEXAFSにより同定されることを示した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
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分類 (1件):
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潤滑一般 
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