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J-GLOBAL ID：202002210270988102   整理番号：20A0667554

EMパルス故障注入のための設計考察【JST・京大機械翻訳】

Design Considerations for EM Pulse Fault Injection

著者 (7件)： Beckers Arthur (imec-COSIC KU Leuven, Leuven, Belgium) ,  Kinugawa Masahiro (National Institute of Technology (KOSEN), Sendai College, Sendai, Japan) ,  Hayashi Yuichi (Nara Institute of Science and Technology, Ikoma, Japan) ,  Fujimoto Daisuke (Nara Institute of Science and Technology, Ikoma, Japan) ,  Balasch Josep (imec-COSIC KU Leuven, Leuven, Belgium) ,  Gierlichs Benedikt (imec-COSIC KU Leuven, Leuven, Belgium) ,  Verbauwhede Ingrid (imec-COSIC KU Leuven, Leuven, Belgium)
資料名： Lecture Notes in Computer Science  (Lecture Notes in Computer Science)
巻： 11833  ページ： 176-192  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0078D  ISSN： 0302-9743  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電磁故障注入(EM-FI)装置は,それらが低コストで作られ,比較的高い空間分解能を達成するので魅力的であり,PCBまたはターゲットのパッケージングによる改ざんの必要性を避けることができる。本論文では,最初に,攻撃をうまく実装するために,パルス注入装置のパルス特性を理解することの重要性をスケッチした。次に,EMパルス装置を作り,パルス形状に対するそれらの影響を実証する異なる成分を調べた。次に,異なる成分を組み立ててEMパルス注入装置を形成した。セットアップの有効性と異なる設計決定が故障注入キャンペーンの結果に与える影響を32ビットARMマイクロコントローラで実証した。Copyright Springer Nature Switzerland AG 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： プローブ ,  マイクロコントローラ ,  *故障 ,  有効性 ,  空間分解能 ,  *パルス ,  パルス特性 ,  パルス波形 ,  *故障注入

著者キーワード (3件)： EM故障攻撃 ,  プローブ設計 ,  EM-FI設定

分類 (1件)： 符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (4件)： EM ,  パルス ,  故障注入 ,  設計