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J-GLOBAL ID：202002210898632129   整理番号：20A0515200

誘導雷サージを印加したPN接合ダイオードの故障特性

著者 (8件)： 藤本雄大 (宇部工高専) ,  中本健太 (宇部工高専) ,  柏谷拓実 (宇部工高専) ,  南野郁夫 (宇部工高専) ,  濱田俊之 (宇部工高専) ,  藤井雅之 (大島商船高専) ,  石倉規雄 (米子工高専) ,  桶真一郎 (津山工高専)
資料名： 電気・情報関連学会中国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (電気・情報関連学会中国支部連合大会(CD-ROM))
巻： 70th  ページ： ROMBUNNO.R19-07-03-05  発行年： 2019年10月21日 
JST資料番号： L1892B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1はじめに.太陽光発電システム(PVS:Photovoltaic System)の普及に伴い自然災害による事故や故障事例が増加している。PVSの故障事例の一つに誘導雷故障が挙げられる。PVS付近に落雷が発生した場合、太陽電池モジュール内の保...【本文一部表示】

シソーラス用語： *太陽光発電 ,  *ダイオード ,  バイパス ,  雷サージ ,  電磁誘導 ,  PN接合 ,  故障解析 ,  電気特性
準シソーラス用語： *バイパスダイオード ,  誘導電流 ,  誘導雷

分類 (2件)： 太陽電池  (NC03084O) ,  ダイオード  (NC03050R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 誘導雷 ,  印加 ,  PN接合 ,  ダイオード ,  故障