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J-GLOBAL ID：202002211391531464   整理番号：20A0042174

残差ネットワークとメトリック学習に基づく素描顔認識【JST・京大機械翻訳】

Sketch face recognition based on residual network and metric learning

著者 (2件)： Zhang Jingjing (北京信息科技大学通信工程系,北京,100101) ,  Cao Lin (北京信息科技大学通信工程系,北京,100101)
資料名： Jisuanji Gongcheng yu Sheji  (Jisuanji Gongcheng yu Sheji)
巻： 40  号： 10  ページ： 2931-2936,2948  発行年： 2019年 
JST資料番号： C3599A  ISSN： 1000-7024  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 顔認識のクラス内モード差が大きい問題を解決するために,深さ残差ネットワークと計量学習に基づく顔認識モデルを提案した。大規模光学顔データセットを用いて,深さ残差ネットワークを訓練し,顔の一般的特徴を学習し,顔訓練データセットの過小フィッティングを解決した。スケッチング顔データセットを用いて,モデルの微調整を行い,スケッチと写真特徴の分布差異を解決した。測定学習モデルと深さ残差ネットワークモデルを結合させ、モデルが異類サンプル距離を拡大すると同時に、さらに素描顔の同類差異を減少できる。香港の中文大学の素描顔データベース上で実験を行い、検証精度が94.42%に達し、実験結果により、このモデルが素描顔認識精度を有効に向上できることが明らかになった。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *学習 ,  *残差 ,  *ネットワーク ,  香港 ,  学習モデル
準シソーラス用語： 認識精度 ,  ネットワークモデル ,  微調整 ,  *顔貌認識 ,  *メトリック学習 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： パターン認識  (JE07000S) ,  人工知能  (JE08000Z) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 残差 ,  メトリック学習 ,  顔認識