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J-GLOBAL ID：202002211708868296   整理番号：20A1133813

スピンHall効果とRashba-Edelstein効果が存在する[数式:原文を参照]/[数式:原文を参照]二分子層におけるスピン-軌道トルクのもつれ【JST・京大機械翻訳】

Disentanglement of Spin-Orbit Torques in [Formula : see text]/[Formula : see text] Bilayers with the Presence of Spin Hall Effect and Rashba-Edelstein Effect

著者 (12件)： Du Ye (Department of Materials Science, Tohoku University, Sendai 980-8579, Japan) ,  Du Ye (Organization for Advanced Studies, Center for Science and Innovation in Spintronics (Core Research Cluster), Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan) ,  Gamou Hiromu (Department of Materials Science, Tohoku University, Sendai 980-8579, Japan) ,  Takahashi Saburo (Advanced Institute for Materials Research, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan) ,  Karube Shutaro (Department of Materials Science, Tohoku University, Sendai 980-8579, Japan) ,  Karube Shutaro (Center for Spintronics Research Network, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan) ,  Kohda Makoto (Department of Materials Science, Tohoku University, Sendai 980-8579, Japan) ,  Kohda Makoto (Organization for Advanced Studies, Center for Science and Innovation in Spintronics (Core Research Cluster), Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan) ,  Kohda Makoto (Center for Spintronics Research Network, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan) ,  Nitta Junsaku (Department of Materials Science, Tohoku University, Sendai 980-8579, Japan) ,  Nitta Junsaku (Organization for Advanced Studies, Center for Science and Innovation in Spintronics (Core Research Cluster), Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan) ,  Nitta Junsaku (Center for Spintronics Research Network, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan)
資料名： Physical Review Applied  (Physical Review Applied)
巻： 13  号： 5  ページ： 054014  発行年： 2020年 
JST資料番号： W3691A  ISSN： 2331-7019  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スピンHall効果(SHE)とRashba-Edelstein効果(REE)の両方が存在する[数式:原文を参照]/[数式:原文を参照]二分子層における電流誘起スピン-軌道トルク(SOTs)の定量的なもつれを実証した。バルク[数式:原文を参照]中のSHEおよび基板(サブ)/[数式:原文を参照]および[数式:原文を参照]/[数式:原文を参照]界面のREEから生じるSOTsを,スピン電流輸送中の二つの効果の間の異なる特性長さを利用して,調和Hall測定を用いて成功裏に分離し定量化した。著者らの試料におけるフィールド様(FL)トルクはREEから生じ,一方,SHEとREEの両方は湿気のような(DL)トルクに寄与する。バルク[数式:原文を参照](有効スピン拡散長)における実験的に抽出された輸送特性長は1.8~3.0nmであるが,[数式:原文を参照]界面(有効REE厚さ)におけるそれらは0.2~0.6nmである。サブ/[数式:原文を参照]および[数式:原文を参照]/[数式:原文を参照]界面における抽出REE誘起FLトルク(およびDLトルク)効率は,同じ桁の大きさであるが,逆符号のそれは,REEシナリオと一致する。観測された温度依存性のSOT符号反転の起源は,著者らの非もつれ解析によって明らかにされ,重金属層の厚さがスピン拡散長さより薄いか,またはREE厚さに匹敵するので,全体のSOTsに寄与する。Copyright 2020 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 界面 ,  *トルク ,  重金属 ,  *二分子層 ,  湿潤 ,  温度依存性 ,  電流発生 ,  スピン拡散
準シソーラス用語： *スピンHall効果 ,  輸送特性 ,  スピン電流 ,  *スピン-軌道トルク , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子輸送の一般理論  (BM03020C)

タイトルに関連する用語 (5件)： スピンHall効果 ,  数式 ,  参照 ,  二分子層 ,  スピン-軌道トルク