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J-GLOBAL ID：202002211882221940   整理番号：20A2345839

微分位相コントラストSTEMにおける時間反転動作によるナノスケール電場と磁場のもつれ【JST・京大機械翻訳】

Disentangling nanoscale electric and magnetic fields by time-reversal operation in differential phase-contrast STEM

著者 (4件)： Campanini M. (Electron Microscopy Center, Empa-Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology, Ueberlandstrasse 129, 8600 Duebendorf, Switzerland) ,  Nasi L. (Istituto dei Materiali per l’Elettronica ed il Magnetismo, IMEM-CNR, Parco delle Scienze 37/A, 43124 Parma, Italy) ,  Albertini F. (Istituto dei Materiali per l’Elettronica ed il Magnetismo, IMEM-CNR, Parco delle Scienze 37/A, 43124 Parma, Italy) ,  Erni R. (Electron Microscopy Center, Empa-Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology, Ueberlandstrasse 129, 8600 Duebendorf, Switzerland)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 117  号： 15  ページ： 154102-154102-4  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 微分位相コントラスト(DPC)走査透過電子顕微鏡(STEM)は,高空間分解能での静電および磁場のマッピングを可能にするため,最近大きな興味を引いている。それにもかかわらず,静電場と磁場の両方に対する同時感度のため,磁性試料のDPC測定の解釈は簡単ではない。本研究では,Lorentz力に対する2つの寄与を電子ビームの時間反転操作によって分離できることを示した。実際に,そのような条件は,試験片を180°までフリッピングした後にDPC-STEM測定を繰り返すことにより容易に達成される。2つの寄与の分離は,例えば,実際の磁気信号から,均一組成を有する試料の厚さ変化のような静電ポテンシャルの影響を識別することを可能にした。この方法論は,DPC-STEMによる磁性ナノ構造の研究,あるいはより一般的に4D-STEMにより,特に重要である。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *磁場 ,  静電場 ,  *電場 ,  電子ビーム ,  磁気 ,  *微分 ,  磁性 ,  Lorentz力
準シソーラス用語： *位相コントラスト ,  静電ポテンシャル ,  *ナノスケール ,  磁性ナノ構造 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (7件)： 微分 ,  位相コントラスト ,  STEM ,  反転 ,  ナノスケール ,  電場 ,  磁場