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J-GLOBAL ID:202002212086138618   整理番号:20A0297765

LCD画像品質とLCD材料を超えた新しい測定提案に及ぼすマイグレーションイオンの影響の種々の測定方法論のレビュー【JST・京大機械翻訳】

Review of various measurement methodologies of migration ion influence on LCD image quality and new measurement proposal beyond LCD materials
著者 (1件):
資料名:
巻: 28  号:ページ: 92-110  発行年: 2020年 
JST資料番号: B0996B  ISSN: 1071-0922  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 文献レビュー  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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今日,薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ(TFT-LCD)は液晶(LC)材料とセル作製プロセスを改善することによりディスプレイ特性の高い信頼性を実現している。ディスプレイ信頼性を向上させるためには,材料とプロセスの改善の進展を見るために測定方法が重要である。このように,著者らのグループは,LCセルのための電圧保持比(VHR),イオン不純物,残留直流(DC)および弾性定数,およびLCD産業のための酸化インジウムスズ(ITO)ガラス基板上の整列層の光学異方性を提案した。イオン不純物の場合,TFT-LCDにおけるイオン不純物量の測定に成功した。さらに,有機発光ダイオード(OLED)と有機光起電力(OPV)であるLCD応用を超えたイオン不純物測定法を最近提案した。本レビューでは,LCDsのための各測定方法論とLCDsを詳細に紹介した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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