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J-GLOBAL ID：202002212357752959   整理番号：20A0802690

軟エックス線によるDNA損傷とトランジスタ特性変動の相関解明

Relationship between DNA damage by radiation and change of the characteristic of DNA transistor

著者 (6件)： 松尾直人 (兵庫県大) ,  吉田一輝 (兵庫県大) ,  部家彰 (兵庫県大) ,  山名一成 (兵庫県大) ,  住友孝二 (兵庫県大) ,  田部井哲夫 (広島大)
資料名： 生体医歯工学共同研究拠点成果報告会
巻： 2019  ページ： 100  発行年： 2020年 
JST資料番号： F2283A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

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シソーラス用語： *X線 ,...
準シソーラス用語： *MOS型トランジスタ ,...

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分類 (2件)： 生体計測・解析一般  (EL03010R) ,  電気・電子部品一搬  (NA05010H)

タイトルに関連する用語 (4件)： エックス線 ,  DNA損傷 ,  トランジスタ ,  相関