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J-GLOBAL ID：202002212816156199   整理番号：20A1802732

Rb様からNi様YbイオンへのN-イントラシェル遷移の分光分析【JST・京大機械翻訳】

Spectroscopic analysis of N-intrashell transitions in Rb-like to Ni-like Yb ions

著者 (9件)： Dipti (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America) ,  Silwal R (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America) ,  Silwal R (Department of Physics and Astronomy, Clemson University, Clemson, SC 29634, United States of America) ,  Dreiling J M (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America) ,  Sanders S C (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America) ,  Sanders S C (Department of Physics and Astronomy, Clemson University, Clemson, SC 29634, United States of America) ,  Takacs E (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America) ,  Takacs E (Department of Physics and Astronomy, Clemson University, Clemson, SC 29634, United States of America) ,  Ralchenko Yu (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, United States of America)
資料名： Journal of Physics. B. Atomic, Molecular and Optical Physics  (Journal of Physics. B. Atomic, Molecular and Optical Physics)
巻： 53  号： 14  ページ： 145002 (14pp)  発行年： 2020年 
JST資料番号： B0913A  ISSN： 0953-4075  CODEN： JPAPEH  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 国立標準技術研究所の電子ビームイオントラップで生成された高荷電イッテルビウムイオンの極端紫外スペクトルを,約4nm~20nmの波長領域でフラットフィールドすれすれ入射分光計で観察した。測定したスペクトルを,非MaxwellEBITプラズマの衝突放射モデリングによる詳細な解析により解釈した。シェル内(Δn=0,n=4)電気双極子,磁気双極子,および電気四重極遷移による79の新しいスペクトル線を,Ni様Yb42+イオンを通してRb様Yb33+で同定した。測定したスペクトルに及ぼすn=4錯体内の強い配置相互作用の影響を,多くのイオン化段階に対して議論した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： イオン化 ,  プラズマ ,  帯電 ,  配置間相互作用 ,  *分光分析 ,  磁気双極子 ,  スペクトル ,  分光計 ,  電気双極子 ,  E2遷移 ,  すれすれ入射 ,  極端紫外線
準シソーラス用語： イッテルビウムイオン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (6件)： Rb ,  Ni ,  Yb ,  イオン ,  遷移 ,  分光分析