抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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低密度ガスハイドレート地層の探査はますます重要視され、密度測定井の密度測定範囲と精度に対してもっと高い要求を出した。密度検層による低密度地層測定の精度を向上させるために、まず、密度検層伝統使用のγ線狭束減衰法則を分析した。次に,広ビームγ線の広帯域ビーム減衰法則を結びつけて,幅ビームγ線に基づく密度検層応答モデルを導き,そして,地層密度の計算式を簡潔に検討した。最後に、モンテカルロ法を用いて、低密度地層の密度検層応答をシミュレートし、二種類の減衰法則の密度検層適用範囲と精度を比較した。結果は以下を示した。密度検層において、広ビーム減衰モデルはγ線が地層の応答関係をよく記述し、狭いビーム応答関係は広束の特殊な状況である。密度検層の密度測定範囲は,広いビームγ減衰モデルに基づいた地層密度の計算式に基づいて,1.003.00gまで拡大する。?3,密度範囲1.00~1.60g??3のガスハイドレート地層において、井戸壁の測量を締め付け、遠探測器の測定密度の平均誤差は0.092g??3.009g??3,近検出器の測定密度平均誤差は0.251g??3.029g??3.シミュレーション測定精度が大幅に向上した。将来のγ線密度検層による低密度地層の正確な測定に理論的及び方法的な基礎を提供した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】