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J-GLOBAL ID：202002214303772438   整理番号：20A0374703

メモリはあなたをhaめるか? Android APPSにおける記憶漏れ検出のための自動化ブラックボックステストアプローチ【JST・京大機械翻訳】

Do Memories Haunt You? An Automated Black Box Testing Approach for Detecting Memory Leaks in Android Apps

著者 (4件)： Amalfitano Domenico (Department of Electrical Engineering and Information Technology, University of Naples Federico II, Naples, Italy) ,  Riccio Vincenzo (Software Institute, Universita` della Svizzera italiana, Lugano, Switzerland) ,  Tramontana Porfirio (Department of Electrical Engineering and Information Technology, University of Naples Federico II, Naples, Italy) ,  Fasolino Anna Rita (Department of Electrical Engineering and Information Technology, University of Naples Federico II, Naples, Italy)
資料名： IEEE Access  (IEEE Access)
巻： 8  ページ： 12217-12231  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2422A  ISSN： 2169-3536  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： メモリ漏れは,悪いプログラミング実行によるメモリの廃棄物がデバイスの利用可能メモリを低減し,その応答性を低下させ,最悪の場合には,攻撃の事故を引き起こす可能性があり,攻撃の原因となる可能性がある。これらのメモリ漏れを検出し,特性化するために,Android appsにおける活動ライフサイクルに対するメモリ漏れの自動検出のためのツール支援ブラックボックス技術を提案した。FunesDroidは,活動ライフサイクルイベントの3つの異なるシーケンスの実行の後,不必要なヒープオブジェクト複製を分析することによって,メモリ漏れを見つけることができるテストアプローチを実行した。本論文では,メモリ漏れを検出し,それらのサイズ,持続性および成長傾向に関してそれらを特性化するために提案した技術の能力を示す探索的研究を提示した。本研究では,FunesDroidツールによって提供された情報のサポートによって,メモリ漏れの原因がどのように検出されるかについても説明した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ライフサイクル ,  応答特性 ,  *記憶装置 ,  キャラクタリゼーション ,  廃棄物 ,  *ブラックボックス ,  *自動化 ,  複製
準シソーラス用語： *アンドロイド , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  信号理論  (ND02020G) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y) ,  記憶方式  (JC02040V)

タイトルに関連する用語 (4件)： HA ,  Android ,  APPS ,  自動化