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J-GLOBAL ID:202002214672896189   整理番号:20A2288965

酸化ガリウム多形相に基づく抵抗構造の性質【JST・京大機械翻訳】

Properties of Resistive Structures Based on Gallium Oxide Polymorphic Phases
著者 (7件):
資料名:
巻: 46  号:ページ: 867-870  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0665A  ISSN: 1063-7850  CODEN: TPLEED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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多形酸化ガリウム(Ga_2O_3)膜に基づく抵抗構造の電流-電圧特性に及ぼすUV照射と強電場の影響を論じた。Ga_2O_3膜を,ベースライン方位(0001)を持つ平滑でパターン化したサファイア基板上に,ハロゲン化物気相エピタキシー(HVPE)法により堆積した。α-Ga_2O_3膜は滑らかな基板上に成長し,αとε相を含む酸化ガリウム膜はパターン化されたもの上に成長した。2相膜に基づく金属/Ga_2O_3/金属構造においてスイッチング効果を検出した。λ=254nmと強い電場で照射すると,構造は低抵抗状態から高抵抗状態まで通過した。Copyright Pleiades Publishing, Ltd. 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
分類
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半導体のルミネセンス 
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