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J-GLOBAL ID:202002215554122718   整理番号:20A2736966

S K-edgeにおけるXAFS測定の検討

Feasibility Study of S K-edge XAFS Measurement
著者 (3件):
資料名:
巻:号:ページ: 150-152 (WEB ONLY)  発行年: 2013年12月10日 
JST資料番号: U1844A  ISSN: 2187-6886  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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・ゴム材料は,硫黄を用いてポリマ同士を橋掛けする架橋構造を形成することで,強度,機械疲労,粘弾性など特異な物理特性を発現するが,その詳細な構造と物性の関係は未解明。
・硫黄架橋構造を詳細に分析できるS K-edge XAFS法に着目。
・エネルギー分解能とX線強度を向上させる必要があり,SPring-8のアンジュレータ光源を利用し,回折格子を用いた分光器から結晶分光器に変更。
・フォトダイオード検出器を用いた透過法とSDD検出器を用いた蛍光法を検討し,透過法では,試料中の硫黄量が少ないためエッジジャンプが小さく,精度のよい測定が難しいことが判明。
・入射X線強度測定に用いたフォトダイオード検出器とSDD検出器のX線感度におけるエネルギー依存性が異なり,フォトダイオード検出器の強度揺らぎが大きくXAFSスペクトルのS/N比が悪化。
シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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ゴム  ,  X線回折法 
引用文献 (3件):
  • S. Yagi, et al., Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B, 199, 244-248 (2003).
  • R. Chauvistre, et al., Chemical Physics, 223, 293-302 (1997).
  • B. Gilbert, et al., Physical Revew B, 66, 245205 (2002).
タイトルに関連する用語 (2件):
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