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J-GLOBAL ID：202002216078988588   整理番号：20A0415184

ラマン散乱の最前線 1 テラヘルツ振動領域における表面増強ラマン散乱

著者 (1件)： 池田勝佳 (名古屋工大 大学院工学研究科)
資料名： 化学と工業  (Chemistry & Chemical Industry)
巻： 73  号： 2  ページ： 106-108  発行年： 2020年02月01日 
JST資料番号： F0107A  ISSN： 0022-7684  CODEN： KAKTAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： テラヘルツ帯域を含む低振動領域は,表面増強ラマン散乱測定の分野では半ば忘れられた存在になっていた。本来この振動領域には,基板-分子間相互作用や水素結合などの界面分光研究に有用な情報が含まれており,電極-電解質界面のその場計測などでの活用が期待できる。最近になって,光学フィルター類の技術革新や表面増強ラマン散乱に対する理論的理解の進展などが相まって,低振動領域を活用した測定を行う下地が整いつつある。本稿では,その現状について紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *表面増強Raman散乱 ,  テラヘルツ波 ,  ナノ粒子 ,  金 ,  表面 ,  化学吸着 ,  単分子層 ,  表面構造 ,  振動モード
準シソーラス用語： 金ナノ粒子

分類 (1件)： 金属の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08062L)

物質索引 (1件)： 4-メチルベンゼンチオール

引用文献 (9件)：

• D. A. Weitz, T. J. Gramila, A. Z. Genack, Phys. Rev. Lett. 1980, 45,355.
• A. L. Glevov, O. Mokhun, A. Rapaport, S. Vergnole, V. Smirnov, L. B. Glebov, Proc. SPIE 2012, 8428, 84280C.
• P. H. Tan, W. P. Han, W. J. Zhao, Z. H. Wu, K. Chang, H. Wang, Y. F. Wang, N. Bonini, N. Marzari, N. Pugno, G. Savini, A. Lombardo, A. C. Ferrari, Nat. Mater. 2012, 11, 294.
• J. T. Hugall, J. J. Baumberg, Nano Lett. 2015, 15, 2600.
• K. Ikeda, N. Fujimoto, H. Uehara, K. Uosaki, Chem. Phys. Lett. 2008,460, 205.

タイトルに関連する用語 (3件)： ラマン散乱 ,  テラヘルツ ,  表面増強ラマン散乱