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J-GLOBAL ID：202002218000353095   整理番号：20A2201666

共通脆弱部位は複製ストレス後の欠陥コンデンシン負荷により特徴づけられる【JST・京大機械翻訳】

Common Fragile Sites Are Characterized by Faulty Condensin Loading after Replication Stress

著者 (6件)： Boteva Lora (MRC Human Genetics Unit, The University of Edinburgh, Crewe Rd South, Edinburgh EH4 2XU, UK) ,  Nozawa Ryu-Suke (MRC Human Genetics Unit, The University of Edinburgh, Crewe Rd South, Edinburgh EH4 2XU, UK) ,  Naughton Catherine (MRC Human Genetics Unit, The University of Edinburgh, Crewe Rd South, Edinburgh EH4 2XU, UK) ,  Samejima Kumiko (Wellcome Centre for Cell Biology, The University of Edinburgh, Michael Swann Building, Max Born Crescent, Edinburgh EH9 3BF, UK) ,  Earnshaw William C. (Wellcome Centre for Cell Biology, The University of Edinburgh, Michael Swann Building, Max Born Crescent, Edinburgh EH9 3BF, UK) ,  Gilbert Nick (MRC Human Genetics Unit, The University of Edinburgh, Crewe Rd South, Edinburgh EH4 2XU, UK)
資料名： Cell Reports  (Cell Reports)
巻： 32  号： 12  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： W3124A  ISSN： 2211-1247  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 細胞は分裂中期から有糸分裂への移行を協調させるが,複製ストレス後の組織特異的様式でCFS発現と呼ばれる共通の脆弱部位(CFS)で再発する細胞遺伝学的病変が現れ,癌における不安定性の標識領域である。このような明確な欠陥にもかかわらず,モデルは完全にCFSの分子説明を提供しなかった。CFSsはクロマチン折畳みの障害により特性化され,複製ストレスの存在下及び非存在下で分子蛍光in situハイブリダイゼーション(FISH)プローブで見える分裂した有糸分裂構造として現れることを示した。染色体凝縮アッセイは,圧縮耐性クロマチン病変が細胞周期と有糸分裂を通してCFSで持続することを明らかにした。細胞遺伝学的および分子病変は,コンデンシン-I媒介圧密の欠損であるCFSsにおける不完全なコンデンシン負荷によってマークされ,有糸分裂DNA合成(MIDAS)と一致する。このモデルは,外因性複製ストレスの条件において,異常なコンデンシン負荷が分子欠損とCFS発現をもたらし,同時にMIDASのための環境を提供し,もし分解されないならば,染色体不安定性をもたらすことを示唆する。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 圧密 ,  凝縮 ,  蛍光 ,  DNA合成 ,  クロマチン ,  染色体 ,  *有糸分裂 ,  折畳み ,  細胞周期 ,  FISH
準シソーラス用語： 染色体不安定性 ,  細胞遺伝学 ,  細胞分裂中期 ,  *コンデンシン ,  *複製ストレス , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (8件)： 染色体 ,  クロマチン ,  コンデンシン ,  複製 ,  複製ストレス ,  ゲノム安定性 ,  凝縮 ,  共通の脆弱な場所

分類 (2件)： 遺伝子の複製  (EC02030F) ,  発癌機序・因子  (GE02020C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 脆弱部 ,  複製ストレス ,  欠陥 ,  コンデンシン