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J-GLOBAL ID：202002218194355165   整理番号：20A0544095

研削プロセスからの特徴を推論するための電気機械インピーダンス(EMI)測定【JST・京大機械翻訳】

Electromechanical impedance (EMI) measurements to infer features from the grinding process

著者 (7件)： Ferreira Fabio Isaac (Department of Electrical Engineering, Sao Paulo State University (UNESP), Bauru, SP, Brazil) ,  de Aguiar Paulo Roberto (Department of Electrical Engineering, Sao Paulo State University (UNESP), Bauru, SP, Brazil) ,  da Silva Rosemar Batista (School of Mechanical Engineering, Federal University of Uberlandia (UFU), Uberlandia, MG, Brazil) ,  Jackson Mark James (School of Integrated Studies, Kansas State University Polytechnic Campus, Salina, KS, USA) ,  de Souza Ruzzi Rodrigo (School of Mechanical Engineering, Federal University of Uberlandia (UFU), Uberlandia, MG, Brazil) ,  Baptista Fabricio Guimaraes (Department of Electrical Engineering, Sao Paulo State University (UNESP), Bauru, SP, Brazil) ,  Bianchi Eduardo Carlos (Department of Mechanical Engineering, Sao Paulo State University (UNESP), Bauru, SP, Brazil)
資料名： International Journal of Advanced Manufacturing Technology  (International Journal of Advanced Manufacturing Technology)
巻： 106  号： 5-6  ページ： 2035-2048  発行年： 2020年 
JST資料番号： T0397A  ISSN： 0268-3768  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,電気機械インピーダンス(EMI)技術と研削パラメータの間の相関を検討した。研削に適用されるEMI技術は新しく,安価な装置を採用する利点があり,音響放射のような従来の技術と比較すると,より簡単な監視システムを必要とする。実験的試験を制御された環境で行い,関心のある変数を分離し,インピーダンスの実部と虚部をいくつかの周波数帯について調べた。EMIと等価チップ厚さ,粗さ,および加工物の微小硬さとパワー信号の間の強い相関が見出された。バンド80~85kHzにおける署名の実数部に対するRMSD(二乗平均偏差)指数は粗さとパワーと良好な相関を示し,50~55kHzの虚数部に対するCCDM(相関係数偏差計量)指数は微小硬さと良好な相関を示した。これらの相関により,間接監視による研削プロセスに関する情報を推論することができる。Copyright Springer-Verlag London Ltd., part of Springer Nature 2019 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 虚数 ,  表面性状 ,  微小硬さ ,  *インピーダンス ,  監視装置 ,  アコースティックエミッション ,  実数 ,  周波数帯 ,  *研削 ,  相関係数
準シソーラス用語： *電気機械インピーダンス , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 研削 ,  電気機械インピーダンス ,  圧電変換器 ,  構造ヘルスモニタリング ,  表面品質

分類 (1件)： 生産形態  (KB03020E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 研削 ,  プロセス ,  推論 ,  電気機械インピーダンス ,  EMI