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J-GLOBAL ID：202002218299065708   整理番号：20A0193437

SoCのためのテストデータ圧縮と走査電力低減のための電力遷移X充填ベース選択Huffman符号化技術【JST・京大機械翻訳】

Power transition X filling based selective Huffman encoding technique for test-data compression and Scan Power Reduction for SOCs

著者 (3件)： Sivanandam Lokesh (Department of Electronics and Communication Engineering, Anna University, Chennai 600025, India) ,  Periyasamy Sakthivel (Department of Electronics and Communication Engineering, Anna University, Chennai 600025, India) ,  Oorkavalan Uma Maheswari (Department of Electronics and Communication Engineering, Anna University, Chennai 600025, India)
資料名： Microprocessors and Microsystems  (Microprocessors and Microsystems)
巻： 72  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： H0781A  ISSN： 0141-9331  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： メモリの過剰利用により,データ圧縮は常緑研究トピックである。圧縮アルゴリズムの一定の要求を実現するために,本論文は,試験データ量,スイッチング電力,チップ面積オーバーヘッドおよび試験の処理速度のような制約最適化のためのディジタルVLSI回路を解析するための圧縮アルゴリズムを提示した。本論文では,より良いデータ圧縮,スイッチング電力低減,チップ面積オーバヘッド低減および試験速度を達成する,新しい電力変換X充填ベース選択的Huffman符号化技術を提案した。提案した研究の性能をISCASベンチマーク回路の助けを借りて調べた。最初に,テストセットを,出力遷移X充填技術を用いて占有し,無処理ビットを置き換え,そして,充填テストセットを,選択的Huffman符号化技術によって,さらに符号化した。実験結果は,提案した電力遷移X充填ベース選択的Huffman符号化が,最小時間とメモリ消費を有する関連データ圧縮技術と比較して,有効な結果を与えることを示した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *電力 ,  スイッチング ,  *データ圧縮 ,  最適化 ,  電力変換 ,  ディジタル方式 ,  アルゴリズム ,  記憶装置 ,  *走査
準シソーラス用語： ベンチマーク回路 ,  処理速度 ,  オーバヘッド ,  チップ面積 ,  *電力低減 ,  *システムオンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： テストデータ圧縮 ,  パワー遷移X充填 ,  システムオンチップ(SoC) ,  試験力 ,  X充填選択Huffman符号化 ,  チップ面積のオーバーヘッド

分類 (4件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (6件)： SOC ,  テストデータ圧縮 ,  走査 ,  電力低減 ,  遷移 ,  Huffman符号化