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J-GLOBAL ID:202002218434865202   整理番号:20A0258401

XAFSによる担持白金触媒上に還元析出した金属カチオンの局所構造解析

著者 (5件):
資料名:
巻:号:ページ: 194-198 (WEB ONLY)  発行年: 2018年08月16日 
JST資料番号: U1844A  ISSN: 2187-6886  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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Snを水素雰囲気下の液相中でPt/SiO2上に還元析出させたSn-deposited Pt/SiO2触媒におけるSn種の局所構造についてX線吸収微細構造(XAFS)測定を行った。これまでに液相中で還元されたSn種が空気雰囲気にさらされると容易に酸化されることが示唆されている。本研究課題では析出Sn種の酸化を抑制するために,調製した触媒が溶媒で湿潤した状態(Sn-deposited Pt/SiO2(wet))でのXAFS測定を試みた。XANESの結果から,Sn-deposited Pt/SiO2(wet)においてもPt/SiO2上に析出したSn種は4価に近い状態で存在していることがわかった。また,EXAFSの結果から,Snの最近接にはO原子が存在することが示唆された。(著者抄録)
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分類 (1件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
貴金属触媒 

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