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J-GLOBAL ID：202002219163085317   整理番号：20A2157856

IRとX線マイクロトモグラフィーデータセットの組み合わせ:Itokawa粒子とParis隕石への応用【JST・京大機械翻訳】

Combining IR and X-ray microtomography data sets: Application to Itokawa particles and to Paris meteorite

著者 (18件)： Dionnet Zelia (DIST-Universita Parthenope, Napoli, Italy) ,  Dionnet Zelia (INAF-IAPS, Roma, Italy) ,  Brunetto Rosario (Institut d’Astrophysique Spatiale, CNRS, Universite Paris-Saclay, Orsay, France) ,  Aleon-Toppani Alice (Institut d’Astrophysique Spatiale, CNRS, Universite Paris-Saclay, Orsay, France) ,  Rubino Stefano (Institut d’Astrophysique Spatiale, CNRS, Universite Paris-Saclay, Orsay, France) ,  Rubino Stefano (SOLEIL synchrotron, Gif-sur-Yvette, France) ,  Baklouti Donia (Institut d’Astrophysique Spatiale, CNRS, Universite Paris-Saclay, Orsay, France) ,  Borondics Ferenc (SOLEIL synchrotron, Gif-sur-Yvette, France) ,  Buellet Anne-Cecile (Universite Paris Saclay, Orsay, France) ,  Djouadi Zahia (Institut d’Astrophysique Spatiale, CNRS, Universite Paris-Saclay, Orsay, France) ,  King Andrew (SOLEIL synchrotron, Gif-sur-Yvette, France) ,  Nakamura Tomoki (Division of Earth and Planetary Materials Science, Laboratory for Early Solar System Evolution, Tohoku University, Sendai, Japan) ,  Rotundi Alessandra (DIST-Universita Parthenope, Napoli, Italy) ,  Rotundi Alessandra (INAF-IAPS, Roma, Italy) ,  Sandt Christophe (SOLEIL synchrotron, Gif-sur-Yvette, France) ,  Troadec David (Institut d’Electronique, de Microelectronique et de Nanotechnologie, Villeneuve d’Ascq, France) ,  Tsuchiyama Akira (Research Organization of Science and Technology, Ritsumeikan University, Kyoto, Japan) ,  Tsuchiyama Akira (Guangzhou Institute of Geochemistry, Guangdong, China)
資料名： Meteoritics & Planetary Science  (Meteoritics & Planetary Science)
巻： 55  号： 7  ページ： 1645-1664  発行年： 2020年 
JST資料番号： W1581A  ISSN： 1086-9379  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近い将来,新世代のサンプルリターンミッション(Hayabusa2,OSIRIS-REx,MMXなど)は,小型太陽システム体からサンプルを収集するであろう。実験室研究の科学的成果を最大化し,貴重な地球外試料の損失を最小化するために,破壊からより破壊的な技術への分析シーケンスを確立する必要がある。本研究では,5つのItokawa粒子および原始炭素質コンドライトParisの1つのフラグメントに適用したX線およびIRマイクロトモグラフィーを組み合わせた。著者らは,この分析法が,それらの3-D構造と多孔性の測定,および鉱物と有機相の検出,および3-Dにおけるそれらの空間的共局在を用いて,個々の地球外粒子の3-D物理的および化学的特性化を提供できることを示した。宇宙ミッションにより収集した顕微鏡試料の多重技術分析シーケンスにおける効率的な第一段階としてこれらの技術を提案した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 鉱物 ,  太陽 ,  *隕石 ,  地球 ,  多孔性 ,  炭素質コンドライト ,  多重化 ,  顕微鏡試料 ,  宇宙空間 ,  三次元
準シソーラス用語： 有機相 ,  *X線マイクロトモグラフィー ,  *ミクロトモグラフィー , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 流星,すい星,いん石  (DB04040A)

タイトルに関連する用語 (6件)： Ir ,  X線マイクロトモグラフィー ,  データセット ,  組み合わせ ,  隕石 ,  応用