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J-GLOBAL ID：202002220560861938   整理番号：20A1614687

雑音測定による超解像:上界と下界の調和【JST・京大機械翻訳】

Super-Resolution with Noisy Measurements: Reconciling Upper and Lower Bounds

著者 (3件)： Qiao Heng (University of California,Dept. of Electrical and Computer Engineering,San Diego,USA) ,  Shahsavari Sina (University of California,Dept. of Electrical and Computer Engineering,San Diego,USA) ,  Pal Piya (University of California,Dept. of Electrical and Computer Engineering,San Diego,USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ICASSP  ページ： 9304-9308  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,不偏超解像度推定の平均二乗誤差(MSE)の下限問題を考察した。文献では,MSE上の上限だけが利用可能であり,いわゆる超解像因子(SRF)でスケールする。しかし,上限は,MSEが実際にノイズ増幅を示すかどうかは示さず,標的分解能と共に増加する。本論文の主な貢献は,雑音のある超解像問題のためのCrame’r-Rao Boundを導き,超解像因子の関数としてそのスケーリングを理解することである。以前の研究で確立された上限と下限を比較し,SRFに対するMSEの依存性が基本であることを示した。本解析は,超解像の問題における他の不偏推定に適用できる。数値実験を行い,理論的主張を示した。1.Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *雑音 ,  分解能 ,  雑音測定 ,  *超解像 ,  不偏推定
準シソーラス用語： *下界 ,  *上界 ,  平均二乗誤差 ,  数値実験 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 雑音測定 ,  超解像 ,  上界 ,  下界 ,  調和