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J-GLOBAL ID：202002220961361111   整理番号：20A2084199

スマートフォンのための温度-電力マッピング【JST・京大機械翻訳】

Temperature-to-Power Mapping for Smartphones

著者 (6件)： Chiou Hong-Wen (College of Electrical and Computer Engineering,Inctitute of Communications Engineering) ,  Lee Yu-Min (College of Electrical and Computer Engineering,Inctitute of Communications Engineering) ,  Hsu Shen-Chung (College of Electrical and Computer Engineering,Inctitute of Communications Engineering) ,  Chen Guan-Jia (College of Electrical and Computer Engineering,Inctitute of Communications Engineering) ,  Pan Chi-Wen (MediaTek Inc.,Hsinchu,Taiwan) ,  Chen Tai-Yu (MediaTek Inc.,Hsinchu,Taiwan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ITherm  ページ： 783-789  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スマートフォンの電力消費がはるかに高くなると,性能劣化やより悪いユーザ経験のような小さな形状因子により,いくつかの顕著な影響が発生する。したがって,電力推定/マッピングは,スマートフォンのための動的電力管理と電力モデル検証にとって不可欠で有用である。本研究では,まず,既存のシステムレベル熱モデルから熱センサに対する電力-温度(P-to-T)方程式を構築し,最小二乗フィッティングを用いてそれらを較正した。さらに,温度-電力(T-to-P)マッピングのための効率的な方法を開発し,熱センサの温度を利用して部品の電力消費を得た。実験は,本研究が定常状態と過渡結果の両方に対して電力プロファイルを効率的に推定できることを示した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 最小二乗法 ,  *電力 ,  電力消費 ,  形状因子 ,  電力管理 ,  *スマートフォン
準シソーラス用語： モデル検証 ,  性能劣化 ,  熱モデル ,  定常状態 ,  熱センサ ,  電力推定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： スマートフォン ,  マッピング