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J-GLOBAL ID：202002221399420817   整理番号：20A1983827

機能等価な有限状態機械生成に基づく面積削減指向コントローラ拡大法

An Area Reduction Oriented Controller Augmentation Method Based on Functionally Equivalent Finite State Machine Generation

著者 (3件)： 辻川敦也 (日本大) ,  細川利典 (日本大) ,  吉村正義 (京都産大 情報理工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告(Web)  (IEICE Technical Report (Web))
巻： 120  号： 121(CPSY2020 1-16)  ページ： 93-98 (WEB ONLY)  発行年： 2020年07月23日 
JST資料番号： U2030A  ISSN： 2432-6380  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,コントローラ拡大はレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計やセキュリティ設計に用いられている.コントローラは有限状態機械でモデル化することができ,コントローラ拡大は状態数や状態遷移数を増加させるために,コントローラの状態レジスタ数や入力数を増加させる.それゆえ,増加させる入力数や状態レジスタ数が大きくなるほど面積オーバヘッドも増大する.本論文では,コントローラの状態数のみ増加させるコントローラ拡大を対象に,同型で入出力割当てが等価な有限状態機械の生成に基づく面積削減指向コントローラ拡大法を提案する.さらに,拡大したコントローラの特徴を活かした論理合成法を提案する.(著者抄録)

シソーラス用語： *有限状態機械 ,  *制御装置 ,  *拡大 ,  回路設計 ,  移動 ,  面積 ,  論理合成 ,  超LSI
準シソーラス用語： VLSI ,  オーバヘッド ,  *コントローラ ,  チップ面積 ,  テスト容易化設計 ,  レジスタ転送レベル ,  状態遷移

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

引用文献 (7件)：

• T. Sasao, SWITCHING THEORY FOR LOGIC SYNTHESIS, Kluwer Academic Publishers, 1999.
• S. Ohtake, T. Masuzawa, and H. Fujiwara, “A non-scan approach to DFT for Controllers Achieving 100% Fault Efficiency, “ Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), vol.16, No.5, pp.553-566, Taipei, Taiwan, oct. 2000.
• Daniel D. Gajski: High-Level Synthesis, Kluwer Academic Pub,1992.
• Yuta Ishiyama, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, ′′A Design for Testability Method for k-Cycle Capture Test Generation′′,IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design(IOLTS’19), pp.40-43, Jul 2019.
• M.L.FLottes, B.Rouzeyre, L.Volpe, ′′A Controller Resynthesis Based Method for Improving Datapath Testabilty′′, IEEE International Symposium on Circuits and Systems(ISCAS), pp. 347-350, May 2000.

タイトルに関連する用語 (4件)： 有限状態機械 ,  面積 ,  コントローラ ,  拡大法