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J-GLOBAL ID:202002221658725739   整理番号:20A0334730

MOSFETスイッチを用いた位相遅延容量インタフェイス回路技術の改善【JST・京大機械翻訳】

Improving the phase delay capacitive interface circuit technique using MOSFET switches
著者 (3件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 025107 (10pp)  発行年: 2020年 
JST資料番号: C0354C  ISSN: 0957-0233  CODEN: MSTCEP  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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既知の抵抗と未知の静電容量を持つRCネットワークの位相遅れを測定することは,キャパシタンスの値を決定するための簡単な技術である。この技術では,入力矩形波信号の状態をCMOSインバータによりバッファし,出力における位相遅延に従ってパルス幅変調(PWM)信号を生成するRCネットワークにより遅延させた。PWM信号のデューティサイクルは,抵抗が固定されるとき,未知の容量に比例する。しかし,この方法の応答は,位相遅れが未知のコンデンサの不完全な充電と放電過程により,約45°より大きい場合には,非常に非線形になる。未知のキャパシタを充電するためのPMOS FETと各測定サイクル中に放電するNMOS FETを持つ新しいMOSFETインタフェイス回路を示した。線形動作の範囲を拡大するこの方法を,シミュレーションで実証し,追加水の質量を測定するために,フリンジ電界容量センサを用いて実験的に検証した。新しい回路は線形動作を140.04°の位相遅れに拡張し,R2値は0.9989に達した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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干渉測定と干渉計 
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