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J-GLOBAL ID:202002221875362916   整理番号:20A2576071

「SKIF」シンクロトロン放射施設のための1-2”構造診断”回折ビームラインの概念【JST・京大機械翻訳】

A concept of 1-2 “structural diagnostics” diffraction beamline for “SKIF” synchrotron radiation facility
著者 (14件):
資料名:
巻: 2299  号:ページ: 060002-060002-10  発行年: 2020年 
JST資料番号: D0071C  ISSN: 0094-243X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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「SKIF」シンクロトロン放射施設(Koltsov,Novosibirk地域,ロシア)のための「構造診断」回折ビームライン1-2の概念設計を提示した。ビームラインは,種々の回折技術(粉末X線回折,単結晶X線回折およびSAXS)に専用である。すべての技術は,化学的,物理的,または工学的プロセスのリアルタイムモニタリングを可能にするために,in situおよびoperandoモードに実装されるであろう。本論文では,ビームライン,基本X線光学方式,および,最後に利用可能な機器の科学的範囲について述べた。機器分解能とフラックスの最適化を目的とするシミュレーションと光線追跡の結果も示した。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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X線技術  ,  X線回折法 
タイトルに関連する用語 (5件):
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