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J-GLOBAL ID：202002222198248143   整理番号：20A0274783

3D方位データ-ニッケル基超合金IN738LCのための回折コントラスト断層撮影と連続切片電子後方散乱回折の比較【JST・京大機械翻訳】

3D orientation data - A comparison of diffraction contrast tomography and serial sectioning electron backscatter diffraction for the nickel-base superalloy IN738LC

著者 (6件)： Reschka Silvia (Leibniz Universitaet Hannover, Institut fuer Werkstoffkunde, Germany) ,  Gerstein Gregory (Leibniz Universitaet Hannover, Institut fuer Werkstoffkunde, Germany) ,  Herbst Sebastian (Leibniz Universitaet Hannover, Institut fuer Werkstoffkunde, Germany) ,  Munk Lukas (Leibniz Universitaet Hannover, Institut fuer Kontinuumsmechanik, Germany) ,  Wriggers Peter (Leibniz Universitaet Hannover, Institut fuer Kontinuumsmechanik, Germany) ,  Maier Hans Juergen (Leibniz Universitaet Hannover, Institut fuer Werkstoffkunde, Germany)
資料名： Materials Letters  (Materials Letters)
巻： 262  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： E0935A  ISSN： 0167-577X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試料の特性化のために,X線顕微鏡は非破壊研究のような種々の利点を提供し,試料の調製努力を低減した。配向測定は回折コントラスト断層撮影(DCT)を用いて可能である。しかし,横方向分解能は電子後方散乱回折(EBSD)と組み合わせた走査電子顕微鏡と比較して低い。ニッケル基超合金IN738LCの試料をEBSDとDCTの直接比較のために三次元的に調べ,両方の方法の利点,欠点および限界を明らかにした。EBSDにより得られた画像は,より微細構造の詳細を示したが,以前の試料調製から生じるアーチファクトも示した。DCTは3D画像化により適しているように見えたが,より小さい結晶粒のいくつかを解決することはできなかった。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 分解能 ,  *トモグラフィー ,  結晶粒界 ,  走査電子顕微鏡 ,  *三次元 ,  結晶粒 ,  微細構造 ,  *コントラスト ,  X線顕微鏡 ,  *回折 ,  キャラクタリゼーション ,  アーチファクト ,  試料調製
準シソーラス用語： 三次元画像 ,  *EBSD , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： Electron顕微鏡 ,  粒界 ,  微細構造 ,  X線技術

分類 (1件)： 変態組織,加工組織  (WB01030N)

タイトルに関連する用語 (6件)： 3D ,  方位 ,  ニッケル基超合金 ,  IN738LC ,  断層撮影 ,  電子後方散乱回折