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J-GLOBAL ID:202002222635479379   整理番号:20A2010135

X線コンピュータ断層撮影による水銀捕捉のモニタリングによるセメント系多孔質材料の細孔構造のキャラクタリゼーションのための水銀侵入ポロシメトリーの再評価【JST・京大機械翻訳】

Reassessment of mercury intrusion porosimetry for characterizing the pore structure of cement-based porous materials by monitoring the mercury entrapments with X-ray computed tomography
著者 (8件):
資料名:
巻: 113  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: B0500B  ISSN: 0958-9465  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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水銀圧入ポロシメトリー(MIP)は,セメント系多孔質材料(CBPM)の細孔構造を評価するための重要な方法であるが,その適用性は明らかにされていない。ここでは,X線計算機トモグラフィー(X-CT)を用いて,MIP試験後の2つの硬化セメントペースト(HCP)中の捕捉水銀をトレースし,細孔構造特性化のための方法を再評価した。4種の最大圧力をMIP試験に用いた。結果は,最大侵入圧力が閾値細孔径に顕著な影響を持たないが,細孔間隔にリンクした平均細孔径に影響することを示した。X-CTはマクロ細孔中に捕捉された水銀滴を測定できる。薄いスロートと結合した厚いチャンバの細孔構造を有する細孔モデルを提案して,MIPとX-CTデータの間のリンクを関連づけた。MIPとX-CTの組み合わせ使用は,MIP結果のより良い理解とCBPMsの定量的細孔構造特性化の可能性に新しい洞察を提供する。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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モルタル,コンクリート 
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