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J-GLOBAL ID：202002223278945040   整理番号：20A1938780

デュアルコンブ分光法を用いた任意光パルスの高速高分解能測定【JST・京大機械翻訳】

Fast High-Resolution Measurement of an Arbitrary Optical Pulse Using Dual-Comb Spectroscopy

著者 (2件)： Ghosh Sutapa (Andrew and Erna Viterby Department of Electrical Engineering and Russell Berrie Nanotechnology Institute, Technion-Israel Institute of Technology, Haifa 32000, Israel) ,  Eisenstein Gadi
資料名： Physical Review Applied  (Physical Review Applied)
巻： 14  号： 1  ページ： 014061  発行年： 2020年 
JST資料番号： W3691A  ISSN： 2331-7019  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1つのコムが十分に特性化された安定周波数コムであり,2番目が測定すべきパルス源であるデュアルコム分光法を用いた短い光パルスの振幅と位相特性を提示した。この技法は,2つの櫛の真の任意の反復率に適していることを示した。さらに,このシステムは高感度であり,低強度パルスの測定を可能にすることを示した。1つの実験では,参照レーザとわずかに異なる繰返し速度で能動モード同期半導体レーザにより発生した比較的長い(80ps)パルスを用いた。第2の実験では,繰返し速度が参照レーザと著しく異なるファイバレーザにより発生した2psパルスを用いた。パルス特性評価の従来法との比較によってこの方法をベンチマークした。さらに,キャリアエンベロープオフセットと繰返し速度の変動による限界を,測定インターフェログラムの計算不均一サンプリングを実行することにより,克服した。Copyright 2020 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 半導体レーザ ,  モード同期 ,  位相特性 ,  パルス特性 ,  *光パルス ,  *パルス ,  エンベロープ ,  キャラクタリゼーション ,  高感度 ,  *高分解能 ,  ベンチマーク ,  ファイバレーザ
準シソーラス用語： 繰返し速度 ,  周波数コム ,  インターフェログラム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  非線形光学  (BD05000T) ,  固体レーザ  (BD04080W)

タイトルに関連する用語 (5件)： デュアル ,  コンブ ,  分光法 ,  光パルス ,  高分解能