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J-GLOBAL ID：202002224980732449   整理番号：20A0577046

粒子計算機トモグラフィーへの応用のためのイオンビームによるモノリシックCMOS画素センサチップの特性評価【JST・京大機械翻訳】

Characterization of monolithic CMOS pixel sensor chip with ion beams for application in particle computed tomography

著者 (43件)： Tambave G. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Alme J. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Barnafoldi G.G. (Department for Theoretical Physics, Wigner RCP of the Hungarian Academy of Sciences, 1121 Budapest, Hungary) ,  Barthel R. (Institute for Subatomic Physics, Utrecht University/Nikhef, Utrecht, Netherlands) ,  van den Brink A. (Institute for Subatomic Physics, Utrecht University/Nikhef, Utrecht, Netherlands) ,  Brons S. (Heidelberg Ion Beam Therapy Center (HIT), Heidelberg, Germany) ,  Chaar M. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Eikeland V. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Genov G. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Grottvik O. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Pettersen H.E.S. (Department of Oncology and Medical Physics, Haukeland University Hospital, 5021 Bergen, Norway) ,  Pastuovic Z. (Center for Accelerator Science, ANSTO, Locked bag 2001, Kirrawee DC NSW 2234, Australia) ,  Huiberts S. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Helstrup H. (Faculty of Engineering and Science, Western Norway University of Applied Science, 5063 Bergen, Norway) ,  Hetland K.F. (Faculty of Engineering and Science, Western Norway University of Applied Science, 5063 Bergen, Norway) ,  Mehendale S. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Meric I. (Faculty of Engineering and Science, Western Norway University of Applied Science, 5063 Bergen, Norway) ,  Malik Q.W. (Department of Physics, University of Oslo, Oslo, Norway) ,  Odland O.H. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Odland O.H. (Department of Oncology and Medical Physics, Haukeland University Hospital, 5021 Bergen, Norway) ,  Papp G. (Institute for Physics, Eotvos Lorand University, H-1117, Budapest, Hungary) ,  Peitzmann T. (Institute for Subatomic Physics, Utrecht University/Nikhef, Utrecht, Netherlands) ,  Piersimoni P. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Ur Rehman A. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Reidt F. (European Organization for Nuclear Research (CERN), Geneva, Switzerland) ,  Richter M. (Department of Physics, University of Oslo, Oslo, Norway) ,  Rohrich D. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Sudar A. (Department for Theoretical Physics, Wigner RCP of the Hungarian Academy of Sciences, 1121 Budapest, Hungary) ,  Sudar A. (Department of High Energy Physics, Wigner RCP of the Hungarian Academy of Sciences, 1121 Budapest, Hungary) ,  Samnoy A.T. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Seco J. (Department of Biomedical Physics in Radiation Oncology, German Cancer Research Center, Heidelberg, Germany) ,  Seco J. (Department of Physics and Astronomy, Heidelberg University, Heidelberg, Germany) ,  Shafiee H. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Shafiee H. (Faculty of Engineering and Science, Western Norway University of Applied Science, 5063 Bergen, Norway) ,  Skjaeveland E.V. (Faculty of Engineering and Science, Western Norway University of Applied Science, 5063 Bergen, Norway) ,  Solie J.R. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Solie J.R. (Faculty of Engineering and Science, Western Norway University of Applied Science, 5063 Bergen, Norway) ,  Ullaland K. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Varga-Kofarago M. (Department of High Energy Physics, Wigner RCP of the Hungarian Academy of Sciences, 1121 Budapest, Hungary) ,  Volz L. (Department of Biomedical Physics in Radiation Oncology, German Cancer Research Center, Heidelberg, Germany) ,  Volz L. (Department of Physics and Astronomy, Heidelberg University, Heidelberg, Germany) ,  Wagner B. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway) ,  Yang S. (Department of Physics and Technology, University of Bergen, 5007 Bergen, Norway)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 958  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 粒子コンピュータ断層撮影(pCT)は,粒子治療における範囲不確実性を低減することを約束する新しい画像診断法である。Bergen pCT協調はALPIDEモノリシックCMOSセンサに基づく新しいpCTプロトタイプを開発することを目的とした。計画されたプロトタイプは,後部追跡装置とデジタル追跡熱量計(DTC)を形成する2つの追跡面から構成される。DTCは41層ALPIDE-アルミニウムサンドイッチ構造で作られる。臨床粒子速度におけるデータ取得を可能にするために,粒子の大きな多重度を,高度粒状ALPIDEセンサを用いて測定した。本研究では,イオンビームにおけるALPIDEセンサ性能の最初の特性化を行った。ALPIDEセンサにおける粒子ヒットは,サイズがチップ応答と粒子エネルギー堆積に関連する電荷クラスタをもたらす。第一に,ANSTOのSIRIUSマイクロプローブ施設で10MeVの4Heマイクロビームにおける測定を行い,ALPIDEピクセル上のビーム位置に対するクラスタサイズの依存性を調べた。ここでは,ビームの衝突点に依存するクラスタサイズの変化を観測した。付加的なビーム試験を,ALPIDEの高感度体積における陽子と4Heイオンによる堆積エネルギーの関数としてクラスタサイズを調べるHeidelberg Ion-Beam Therapyセンター(HIT)で行った。結果は,堆積エネルギーによるクラスタサイズの予想される増加と陽子と4Heイオンに対するクラスタサイズの明確な差を示した。結論として,ALPIDEによる正確なエネルギー損失再構成を可能にするために,ビームの衝突点によるクラスタサイズの変化を考慮しなければならない。しかし,これは,クラスタの重心のみが関連するので,最終プロトタイプを通して粒子追跡に影響しない。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電荷 ,  マイクロプローブ ,  *画素 ,  *CMOS ,  データ収集 ,  陽子 ,  サンドイッチ構造 ,  粒子速度 ,  エネルギー損失 ,  *計算機トモグラフィー ,  不確実性 ,  トラッキング装置 ,  クラスタ ,  *イオンビーム ,  重心

著者キーワード (3件)： 粒子計算機トモグラフィー(PCT) ,  モノリシック能動画素センサ(MAPS) ,  ディジタルトラッキング熱量計(DTC)

分類 (1件)： 加速器一般及び理論  (BE02010M)

タイトルに関連する用語 (6件)： 計算機トモグラフィー ,  応用 ,  イオンビーム ,  CMOS ,  画素センサ ,  特性評価