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J-GLOBAL ID：202002225357997002   整理番号：20A2620842

短絡下の二重アクティブブリッジの過渡過程の過電流評価【JST・京大機械翻訳】

Overcurrent Evaluation of Transient Process of Dual Active Bridges Under Short Circuits

著者 (2件)： Chen Yangfan (Huazhong University of Science and Technology,School of Electrical and Electronic Engineering,Wuhan,China) ,  Zhang Yu (Huazhong University of Science and Technology,School of Electrical and Electronic Engineering,Wuhan,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： IECON  ページ： 5141-5146  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,負荷の短絡故障が発生するとき,内部回路における二重アクティブブリッジ(DAB)の詳細な過渡プロセスを分析し,それは既存の研究で考慮しなかった。解析結果に基づいて,故障後の信号のブロッキング期間と出力における直列インダクタンスを,故障ライドスルーを達成するために導き出した。解析結果を,MATLAB/Simulinkによるシミュレーションおよび500Wプロトタイプに関する実験によって検証した。本論文で提示した結果は,DABsの過電流保護と故障乗り越しのための戦略の設計の理論的参照を提供する。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： インダクタンス ,  故障 ,  ブロッキング ,  *過電流 ,  プロトタイプ
準シソーラス用語： Simulink ,  MATLAB ,  過電流保護 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 短絡 ,  ブリッジ ,  過程 ,  過電流 ,  評価