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J-GLOBAL ID：202002225805401206   整理番号：20A0237030

擬似ランダムロス軌跡に基づく光学表面中間周波数誤差抑制研究【JST・京大機械翻訳】

Research on mid-frequency error suppression of optical surface based on pseudo-random Rose trajectory

著者 (6件)： Qiao Licheng (長春理工大学,吉林 長春 130022;長春理工大学光電信息学院,吉林 長春 130022) ,  Zhang Jing (長春理工大学,吉林 長春,130022) ,  Fu Xiuhua (長春理工大学,吉林 長春,130022) ,  Ai Bo (長春理工大学,吉林 長春,130022) ,  Li Xin (吉林省遠大光学検測技術有限公司,吉林 長春,130022) ,  Huang He (長春奥普光電技術股fen有限公司,吉林 長春,130022)
資料名： Jiguang yu Hongwai  (Jiguang yu Hongwai)
巻： 49  号： 11  ページ： 1369-1373  発行年： 2019年 
JST資料番号： C2073A  ISSN： 1001-5078  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 光学表面の中周波数誤差の制御は長い間ずっと光学加工の焦点、難点である。接触式のコンピュータ制御光学表面成形技術に対して、従来の加工経路は格子式経路と螺旋線式経路のように、通常、固有な中間周波数誤差を導入するが、新型の擬似ランダム軌跡は工作機械の動的性能に対して要求が高すぎ、普遍的な応用が難しい。擬似ランダム軌道の研究に基づいて,本稿では,擬似ランダムロス軌跡を用いて,光学表面における中間周波数誤差を抑制する方法を提案した。加工経路不整合とエルゴード工作物表面を保証する上で、擬似ランダムロス軌跡のパラメータモデルを構築した。伝統的な加工経路と擬似ランダムロス軌跡に対して、プロセス比較実験を行い、干渉結果に対してパワースペクトル密度分析を行った。実験結果は,3つの経路が低周波数誤差に対して効果的に抑制でき,一方,従来の経路が1/0.07mm以上の周波数帯域誤差に対して悪い影響をもたらすが,擬似ランダムロス軌跡は中間周波数誤差に対して効果的に抑制できることを示した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *軌跡 ,  LF【周波数】 ,  工作機械 ,  *中間周波数 ,  不整合 ,  計算制御 ,  工作物 ,  周波数帯 ,  干渉 ,  比較試験 ,  パワースペクトル密度
準シソーラス用語： 加工経路 ,  *光学表面 ,  *擬似ランダム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 薄膜一般  (BK14010X) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  光の散乱,回折,干渉  (BD03030M)

タイトルに関連する用語 (7件)： 擬似ランダム ,  ロス ,  軌跡 ,  光学表面 ,  中間周波数 ,  誤差 ,  研究