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J-GLOBAL ID：202002226390199801   整理番号：20A0433945

振動ベース自己試験システムのためのフィードバック回路の研究【JST・京大機械翻訳】

Investigation of feedback circuit for oscillation-based self-testing systems

著者 (2件)： Kladovscikov Leonid (Micro-and Nanoelectronics Design and Research Laboratory, Vilnius Gediminas Technical University,Electronics faculty,Department of Computer Science and Communications Technologies,Vilnius,Lithuania) ,  Navickas Romualdas (Micro-and Nanoelectronics Design and Research Laboratory, Vilnius Gediminas Technical University,Electronics faculty,Department of Computer Science and Communications Technologies,Vilnius,Lithuania)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： AIEEE  ページ： 1-4  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,オンチップ内蔵自己試験のための異なるタイプのフィードバック回路を研究した。試験システムとして,振動型内蔵自己試験を設計し,それを用いて試験(CUT)下の回路のパラメトリック故障を推定した。試験中の回路として,二次Sallen-Key構造低域フィルタを設計し,三つのフィードバック回路を調べ,インバータ,Schmittトリガおよびコンパレータを用いた。内蔵自己試験システムのシミュレーションを,0.18μn CMOS技術で行った。過渡およびモンテカルロシミュレーションを用いて,提案したOBISTシステムおよびフィードバック回路を調べた。使用したフィードバック回路に依存する受動部品の公称値のパラメトリック故障の検出範囲は,高利得インバータの場合,-0.63%-:-0.74%を超えなかった。Schmittトリガの場合は-11.15%-:-4.63%,コンパレータの場合は-56.19%-:-71.57%であった。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 故障 ,  CMOS ,  *帰還回路 ,  コンパレータ ,  低域フィルタ
準シソーラス用語： 受動素子 ,  モンテカルロシミュレーション ,  オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 自己 ,  試験システム ,  フィードバック回路 ,  研究