文献
J-GLOBAL ID:202002229228378555   整理番号:20A2715999

実際の運転条件の下での太陽光発電システムの櫛形裏面接触太陽電池からなる光起電力モジュールにおける電位誘起劣化【JST・京大機械翻訳】

Potential-induced degradation in photovoltaic modules composed of interdigitated back contact solar cells in photovoltaic systems under actual operating conditions
著者 (5件):
資料名:
巻: 28  号: 12  ページ: 1322-1332  発行年: 2020年 
JST資料番号: W0463A  ISSN: 1062-7995  CODEN: PPHOED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
n型交差指背面接触(IBC)太陽電池から成る光起電力(PV)モジュールの分極型電位誘起劣化(PID-p)は,正の電位条件下でPVモジュールの性能を低下させることができる。本研究の目的は,6年間にわたるPID-pの進行とともに,運転PVシステムに設置したあらゆるPVモジュールの電気的性能の低減と安定化を観察することである。調査したPVシステムの直流回路は接地されていない。したがって,すべてのPVストリングは浮遊電位条件にある。その結果,n型IBC PVモジュールの性能は2段階劣化を示した。劣化の第一段階では,PVモジュール電位の増加とともに,正の電位でのPV性能は減少したが,負の電位でのPVモジュールは,ほとんど性能劣化を示さなかった。PID-pによるPV性能低下は,主に開回路電圧(V_OC)と短絡電流(I_SC)の両方の減少に起因する。主にI_SCの減少から生じるPV性能低下は,劣化の第二段階におけるPVモジュール電位に関係なく,PVストリングのあらゆるPVモジュールで観察された。したがって,n型IBCを生産する太陽電池製造者と,不動態化エミッタと背面全拡散太陽電池を生産できる太陽電池メーカーは,PID-pを防止するためのプロセスが必要であることを助言した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
太陽電池  ,  太陽光発電 

前のページに戻る