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J-GLOBAL ID：202002229705981892   整理番号：20A2499140

一重項および三重項励起子の消光に起因する蛍光有機発光ダイオードの劣化【JST・京大機械翻訳】

Degradation of fluorescent organic light emitting diodes caused by quenching of singlet and triplet excitons

著者 (5件)： Le Duy Cong (School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan. [e-mail]) ,  Nguyen Duong Dai ,  Lloyd Savanna ,  Suzuki Toshi-kazu ,  Murata Hideyuki
資料名： Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical, Magnetic and Electronic Devices  (Journal of Materials Chemistry C. Materials for Optical, Magnetic and Electronic Devices)
巻： 8  号： 42  ページ： 14873-14879  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2383A  ISSN： 2050-7526  CODEN： JMCCCX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 時間分解光ルミネセンス(TRPL)と時間分解エレクトロルミネセンス(TREL)による素子劣化の初期段階における蛍光有機発光ダイオードの分解機構を研究した。劣化したデバイスのTRPLは,エミッタの一重項励起子の光ルミネセンス(PL)寿命の減少を示し,分解が一重項励起子の消光によるPL量子収率の減少に起因することを示唆した。劣化したデバイスの容量-電圧測定は,トラップされた正電荷の形成を示した。一重項励起子の消光剤は正電荷の捕獲サイトとして働くことができた。エレクトロルミネセンス(EL)下でのPL寿命の変化は,このデバイス劣化がトラップされた正電荷による一重項励起子の消光によっては生じないことを示唆した。デバイスのTRELは三重項-三重項消滅(TTA)に起因するマイクロ秒の時間範囲で遅延したELを示した。劣化したデバイスのTRELは遅延したEL強度の減少を示し,それはTTA過程による一重項励起子の収率の減少を示唆した。一重項励起子の収率の減少は,トラップされた正電荷による三重項励起子の消光に起因した。Copyright 2020 Royal Society of Chemistry All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エレクトロルミネセンス ,  *蛍光 ,  光ルミネセンス ,  量子収量 ,  *励起子 ,  *一重項 ,  捕獲 ,  三重項-三重項消滅 ,  消光剤 ,  電圧測定
準シソーラス用語： 正電荷 ,  *有機EL素子 ,  マイクロ秒 ,  時間分解光ルミネセンス ,  *三重項励起子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 発光素子  (NC03082G) ,  有機化合物のルミネセンス  (BM08094A) ,  有機化合物・錯体の蛍光・りん光(分子)  (BH06062I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 一重項 ,  三重項励起子 ,  消光 ,  起因 ,  蛍光 ,  有機発光ダイオード