文献

J-GLOBAL ID：202002229799888228   整理番号：20A0295496

ワイヤ+アーク添加物製造のための同時組成,構造および応力解析のためのレーザ光-超音波二重検出【JST・京大機械翻訳】

Laser opto-ultrasonic dual detection for simultaneous compositional, structural, and stress analyses for wire + arc additive manufacturing

著者 (10件)： Ma Yuyang (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Hu Zhenlin (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Tang Yun (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Ma Shixiang (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Chu Yanwu (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Li Xin (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Luo Wei (School of Optical and Electronic Information, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Guo Lianbo (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Zeng Xiaoyan (Wuhan National Laboratory for Optoelectronics (WNLO), Huazhong University of Science and Technology, Wuhan, Hubei, 430074, China) ,  Lu Yongfeng (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Nebraska, Lincoln, NE, 68588-0511, USA)
資料名： Additive Manufacturing  (Additive Manufacturing)
巻： 31  ページ： Null  発行年： 2020年 
JST資料番号： W3016A  ISSN： 2214-8604  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 添加剤製造(AM)の複雑,非平衡物理的,化学的および冶金的性質は,制御できない,予測できない材料および構造特性をもたらす傾向がある。したがって,AMのリアルタイムモニタリングは非常に重要である。しかしながら,現在のAMは,通常,破壊的で,費用がかかり,時間がかかる分離後プロセス分析に依存している。本研究では,ワイヤ+アーク付加製造(WAAM)プロセス中のアルミニウム(Al)合金部品における元素組成,構造欠陥および残留応力の同時および実時間検出のためのレーザ光-超音波二重(lo)検出法を検討した。この方法では,パルスレーザビームを用いてAl合金試料の表面を励起し,超音波と光学スペクトルを発生させた。結果として,光学スペクトルから組成情報を得ることができ,一方,超音波信号から構造欠陥と残留応力分布を抽出できる。光学スペクトル解析から得られたケイ素(Si)と銅(Cu)組成は,電子プローブミクロ分析(EPMA)から得られたものと一致した。サンプルの1mmの全体および残留応力分布を,loud検出における超音波信号によって検出し,そしてそれは,従来の超音波検査(UT)との整合性を示した。両方の結果は,loud検出が品質管理とプロセスフィードバックを確実にするためにAMプロセスのための効果的試験方法になることの有望性を保持することを示した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *応力解析 ,  *超音波 ,  アルミニウム合金 ,  構造特性 ,  冶金 ,  品質管理 ,  非平衡状態 ,  検出法 ,  付加製造 ,  *アーク放電 ,  電子プローブ ,  残留応力 ,  微量分析 ,  *レーザビーム ,  *金属線

著者キーワード (5件)： 元素組成 ,  構造欠陥 ,  残留応力 ,  ワイヤ+アーク付加製造 ,  Loud検出

分類 (3件)： その他の成形  (YH04090Q) ,  機械的性質  (YH02022L) ,  機械的性質  (WB02030U)

タイトルに関連する用語 (8件)： ワイヤ ,  アーク ,  添加物 ,  組成 ,  応力解析 ,  レーザ光 ,  超音波 ,  二重検出