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J-GLOBAL ID：202002230703009416   整理番号：20A1258296

ヘテロダイン干渉を用いた弱散乱粒子のためのXFELコヒーレント回折イメージング【JST・京大機械翻訳】

XFEL coherent diffraction imaging for weakly scattering particles using heterodyne interference

著者 (22件)： Huang Chi-Feng (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Chang Wei-Hau (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Lee Ting-Kuo (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Joti Yasumasa (Japan Synchrotron Radiation Research Institute/Spring-8, Hyogo 679-5198, Japan) ,  Nishino Yoshinori (Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University, Sapporo 001-0021, Japan) ,  Kimura Takashi (Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University, Sapporo 001-0021, Japan) ,  Suzuki Akihiro (Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University, Sapporo 001-0021, Japan) ,  Bessho Yoshitaka (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Lee Tsung-Tse (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Chen Mei-Chun (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Yang Shun-Min (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Hwu Yeukuang (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Huang Shih-Hsin (Institute of Chemistry, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Li Po-Nan (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Chen Peilin (Research Center for Applied Sciences, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Tseng Yung-Chieh (Genomics Research Center, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Ma Che (Genomics Research Center, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Hsu Tsui-Ling (Genomics Research Center, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Wong Chi-Huey (Genomics Research Center, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan) ,  Tono Kensuke (RIKEN SPring-8 Center, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Ishikawa Tetsuya (RIKEN SPring-8 Center, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Liang Keng S. (Institute of Physics, Academia Sinica, Taipei 115, Taiwan)
資料名： AIP Advances (Web)  (AIP Advances (Web))
巻： 10  号： 5  ページ： 055219-055219-11  発行年： 2020年 
JST資料番号： U7121A  ISSN： 2158-3226  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線自由電子レーザ(XFEL)コヒーレント回折イメージングの空間分解能は,XFELのフルエンスによって現在制限されている。ここでは,水溶液中の10nmから80nmまでのサイズの金ナノ粒子上のSPring-8オングストロームのコンパクトな自由電子レーザXFELによる回折を系統的に研究することによってこの問題を明らかにした。単一XFELパルスから得たコヒーレントX線回折パターンを,計算機シミュレーションと共に小角X線散乱法を用いて定量的に解析した。結果は,Auナノ粒子の検出能が,全電子密度,粒子サイズ,およびX線フルエンスの関数として「マスター曲線」によって記述できることを示した。しかし,電流XFELフルエンス下での小粒子検出の困難さは,近傍の強い散乱ナノ粒子からの干渉を通しての画像増強効果により大きく除去できた。Auナノ粒子からの2粒子散乱を定量的に分析することによりこの画像増強効果を調べ,さらにAuナノ粒子の助けを借りてインフルエンザウイルスの弱い生物学的物体を検出するために適用した。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *回折 ,  *干渉 ,  *コヒーレンス ,  *散乱 ,  電子密度 ,  電流 ,  計算機シミュレーション ,  インフルエンザウイルス ,  *画像処理 ,  パルス ,  画像強調 ,  フルエンス ,  ナノ粒子 ,  *X線自由電子レーザ ,  金ナノ粒子 ,  計算機利用 ,  利用 ,  微生物

分類 (2件)： その他のレーザ  (BD04090H) ,  X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (7件)： ヘテロダイン ,  干渉 ,  散乱 ,  XFEL ,  コヒーレント ,  回折 ,  イメージング