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J-GLOBAL ID：202002231686455155   整理番号：20A2115737

多重散乱を利用した次世代X線回折技術の開発

Development of next-generation X-ray diffraction techniques using multiple diffractions

著者 (1件)： 坂倉輝俊 (東北大 多元物質科研)
資料名： 東北大学金属材料研究所新素材共同研究開発センター共同利用研究報告書(CD-ROM)
巻： 2019  ページ： 130-131  発行年： 2020年08月28日 
JST資料番号： L3700B  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 4円回折計による結晶方位の決定のためにもともと発明された2反射法を自動化しすべての回折計用に一般化した。開発したソフトウェアを二次元検出器を有する回折計について試験し開発したシステムは正しく動作することを確認した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線回折 ,  多重散乱 ,  反射 ,  装置 ,  自動化 ,  汎化 ,  ソフトウェア
準シソーラス用語： 回折計 ,  一般化

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (3件)：

• 坂倉ほか、日本結晶学会2019年度年会、2019.11.20、(金沢).
• W. R. Busing & H. A. Levy, Acta Cryst. (1967). 22, 457-464.
• 坂倉ほか、量子ビームサイエンスフェスタ、2020.3.12-14、(つくば)

タイトルに関連する用語 (4件)： 多重散乱 ,  次世代 ,  X線回折 ,  開発