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J-GLOBAL ID:202002231743595065   整理番号:20A2230280

P-15:3オメガ法を用いたインジウム-ガリウム-亜鉛-オキシド薄膜の熱伝導率測定【JST・京大機械翻訳】

P-15: Thermal Conductivity Measurement of Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin Films Utilizing Three-Omega Method
著者 (4件):
資料名:
巻: 51  号:ページ: 1365-1368  発行年: 2020年 
JST資料番号: E0907A  ISSN: 0097-966X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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インジウム-ガリウム-亜鉛-オキシド(IGZO)薄膜の交差面熱伝導率の温度依存性を,微分3ω法を用いて測定した。IGZO薄膜を,室温でDCスパッタリングによりAl_2O_3基板上に堆積した。熱伝導率は,いくつかの異なる酸素分圧,0%,10%および65%で,それぞれ1.6,1.8および2.6W/(m・K)であった。さらに,IGZO薄膜の熱伝導率は,結晶材料の典型的な特性に従って,測定周囲温度の増加と共に減少する。これらの結果は,結晶性がIGZO膜内に存在し,この結晶相がIGZO膜への熱伝導を支配しているということを証明した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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トランジスタ  ,  酸化物薄膜 

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