文献

J-GLOBAL ID：202002232455539232   整理番号：20A0535402

太陽デバイスにおける性能劣化のための表面欠陥【JST・京大機械翻訳】

Reviewing Surface Defects for the Performance Degradation in the Solar Devices

著者 (3件)： Pancholi Kruti (Swarrnim Institute of Technology, Swarnim Startup & Innovation University, Gandhinagar, Gujarat, India) ,  Pandya Mosam (L. J. Institute of Engineering and Technology, Ahmedabad, Gujarat, India) ,  Raval Dhyey (Swarrnim Institute of Technology, Swarnim Startup & Innovation University, Gandhinagar, Gujarat, India)
資料名： Lecture Notes in Electrical Engineering  (Lecture Notes in Electrical Engineering)
巻： 608  ページ： 209-217  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5070A  ISSN： 1876-1100  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコンベースの太陽電池(PV)セルは,その性能劣化を理解するための表面分析の基礎となっている。電気的パラメータを有する表面画像に基づく分割調査のためのアプローチを,性能因子を分析するために使用した。電気的活力に対する電力ホットスポットを持つ太陽装置は,時間スパンを超えている。表面変形によるセルの欠陥は,性能パラメータの減少をもたらし,全体の最大電力能力に影響を及ぼす。シリコンセルの作製プロセスにおけるウエハの厚さを減少させるための連続化は,多くの事例研究で見られるように欠陥パターンの増加を引き起こす。画像処理アルゴリズムに依存するモデルベースシステムをレビューすることは,特に,システムにおける主要な損傷を避けるために,その大きな侵入の前に,任意のミニチュア亀裂を認識することができる劣化解析のために設計された。研究は,ボード表面に基づき,分解プロセスの初期段階における測定可能な症状を有する。電圧,電流,および出力中心分析によるARIMAモデルによるPVセルの解析を,その劣化のプロセスを理解するために研究した。端部検出による破断と分割技術の認識は,その観察のためにモデルにおいて使用した。分割発見のためのチャネルとそのパターンを認識することは,光起電力の最近の分野で見られるように現代の応用で使用されている。Copyright Springer Nature Singapore Pte Ltd. 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 画像処理 ,  電力 ,  電流 ,  太陽電池 ,  表面分析 ,  亀裂 ,  事例研究 ,  チャネル ,  スパン ,  連続化 ,  光起電力 ,  *太陽 ,  ケイ素 ,  電圧 ,  ホットスポット

著者キーワード (3件)： 太陽電池 ,  イメージング ,  劣化とシリコン

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (3件)： 太陽 ,  性能劣化 ,  表面欠陥