半導体産業における一般的なVMI測定と応用【JST・京大機械翻訳】

Ehm Hans; Jankowiak Frederic; Filser Veronika; Lauer Tim; Nguyen Anh

文献

J-GLOBAL ID：202002232788880751 整理番号：20A1759907

半導体産業における一般的なVMI測定と応用【JST・京大機械翻訳】

A generic VMI measurement and application in the semiconductor industry

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資料名：
号： WSC ’18 ページ： 3449-3460 発行年： 2018年
JST資料番号： D0698C 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

ベンダー管理インベントリ(VMI)は広範なサプライチェーン協調モデルである。製品不足と過剰ストックを避けるため,最小と最大在庫レベルを定義する様々な測定手法を設計した。既知の手法のどれも,在庫レベルの状態に関する責任の側面を取上げていない。これは,半導体産業とその下流顧客のような長いプロセス時間,短い製品ライフサイクルおよび揮発性需要パターンに直面した産業において特に重要である。本研究では,VMI分類チェックリストを確立し,この協調モデルの共通理解の基礎を構築した。これに続いて,貧弱な性能に対する責任を割り当てるためのプロセスを含む一般的なVMI測定アプローチが続く。新しいプロセスは,他の測度と区別され,それは,両側の性質であり,パラメータは,異なるVMIパートナーシップのニーズに一意的に適合できる。Please refer to this article’s citation page on the publisher website for specific rights information. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

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在庫管理 , 物的流通

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