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J-GLOBAL ID：202002233849268501   整理番号：20A2711536

[数式:原文を参照]における電子構造と小正孔ポーラロン【JST・京大機械翻訳】

Electronic structure and small-hole polarons in [Formula : see text]

著者 (14件)： Yue Jin (Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA) ,  Quackenbush Nicholas F. (Materials Measurement Science Division, Material Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA) ,  Laraib Iflah (Department of Materials Science and Engineering, University of Delaware, Newark, Delaware 19716, USA) ,  Carfagno Henry (Department of Materials Science and Engineering, University of Delaware, Newark, Delaware 19716, USA) ,  Hameed Sajna (School of Physics and Astronomy, University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA) ,  Prakash Abhinav (Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA) ,  Thoutam Laxman R. (Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA) ,  Thoutam Laxman R. (Department of Electronics and Communications Engineering, SR University, Warangal Urban, Telangana 506371, India) ,  Ablett James M. (Synchrotron SOLEIL, L’Orme des Merisiers, Boite Postale 48, Saint-Aubin, 91192 Gif sur Yvette, France) ,  Lee Tien-Lin (Diamond Light Source, Ltd., Harwell Science and Innovation Campus, Didcot, Oxfordshire OX11 0DE, United Kingdom) ,  Greven Martin (School of Physics and Astronomy, University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA) ,  Doty Matthew F. (Department of Materials Science and Engineering, University of Delaware, Newark, Delaware 19716, USA) ,  Janotti Anderson (Department of Materials Science and Engineering, University of Delaware, Newark, Delaware 19716, USA) ,  Jalan Bharat (Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA)
資料名： Physical Review Materials  (Physical Review Materials)
巻： 4  号： 11  ページ： 112001  発行年： 2020年 
JST資料番号： W3690A  ISSN： 2475-9953  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 強磁性秩序を有するプロトタイプMott絶縁体として,[数式:原文を参照](YTO)は,強い電子相関効果および軌道秩序の研究において大きな関心事である。ここでは,電子構造と電荷輸送特性の理論的および実験的キャラクタリゼーションと組み合わせたYTO膜の初めての分子ビームエピタクシー(MBE)成長を報告する。YTO MBE成長の障害を議論し,それらを克服する可能性のある経路を提案した。薄膜とバルク単結晶のDC輸送とSeebeck測定は,薄膜中の[数式:原文を参照]の活性化エネルギーによるp型Arrhenius輸送挙動を同定し,ハイブリッド密度汎関数理論計算からの小さな正孔ポーラロン移動のエネルギー障壁と一致した。硬X線光電子分光法測定は,Fermi準位より1.1eVのより低いインピーダンスバンドを示し,一方,[数式:原文を参照]のMott-Hubbardバンドギャップは光ルミネセンス測定から決定した。これらの知見は,YTOと関連材料の電子バンド構造への重要な洞察を提供する。Copyright 2020 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： インピーダンス ,  活性化エネルギー ,  *正孔 ,  単結晶 ,  薄膜 ,  *ポーラロン ,  電子相関 ,  Fermi準位 ,  MBE成長 ,  バンドギャップ
準シソーラス用語： 電荷輸送 ,  軌道秩序 ,  エネルギー障壁 ,  強磁性秩序 ,  密度汎関数計算 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 絶縁体結晶の電子構造  (BM02070Y) ,  表面の電子構造  (BM02080J) ,  ポーラロン,電子-フォノン相互作用  (BM02130P) ,  金属-絶縁体転移  (BM02110T)

タイトルに関連する用語 (5件)： 数式 ,  参照 ,  電子構造 ,  正孔 ,  ポーラロン