文献
J-GLOBAL ID:202002235219191140   整理番号:20A2531748

高フルエンス重水素プラズマに曝露したタングステンにおけるブリスタ支配保持機構【JST・京大機械翻訳】

Blister-dominated retention mechanism in tungsten exposed to high-fluence deuterium plasma
著者 (22件):
資料名:
巻: 60  号: 12  ページ: 126034 (13pp)  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0220B  ISSN: 0029-5515  CODEN: NUFUAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
水素同位体(HI)保持に及ぼすブリスタリングの影響を調べるために,一連の重水素プラズマ曝露を,線形プラズマデバイスSTEPにおいて1.0×1028イオンm-2までの高フルエンスで500Kで再結晶タングステン試料を用いて行った。プラズマフルエンスの増加とともにブリスタ密度と重水素保持の増加が観察された。TMAPを用いた熱脱着スペクトルのシミュレーションに基づいて,異なるデトラッピングエネルギーを有する欠陥が数十ミクロンの深さに位置し,これは表面に近い結晶粒界(GB)の深さと一致することが分かった。透過型電子顕微鏡と陽電子消滅ドップラー広がりを用いた欠陥キャラクタリゼーションは,転位型と空孔型として欠陥を同定し,これはブリスタリングによって作られた。これらの欠陥は材料中に深く拡散し,欠陥とGBの拡散間の相互作用はプラズマフルエンスに対して特異な重水素脱離スペクトルを引き起こすことを示唆した。さらに,これらのブリスタ誘起欠陥は重水素保持の主な源である。重水素保持に及ぼすブリスタ誘起欠陥の影響に関して,ブリスタリングがこの研究のように厳しいときの条件におけるHI保持を記述するために,ブリスタ支配保持機構を提案した。本研究は,トカマクエッジプラズマ環境における保持と保持のモデリングに及ぼすブリスタリングの影響への新しい洞察を提供する。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
核融合装置  ,  固体-プラズマ相互作用 

前のページに戻る