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J-GLOBAL ID：202002236164902529   整理番号：20A0625129

超解像走査電気化学顕微鏡【JST・京大機械翻訳】

Super-resolution Scanning Electrochemical Microscopy

著者 (3件)： Stephens Lisa I. (Department of Chemistry, McGill University, Quebec, Canada) ,  Payne Nicholas A. (Department of Chemistry, McGill University, Quebec, Canada) ,  Mauzeroll Janine (Department of Chemistry, McGill University, Quebec, Canada)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 92  号： 5  ページ： 3958-3963  発行年： 2020年 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超解像走査電気化学顕微鏡(SECM)を達成するために,表面生成種の非接触電気化学イメージングに関連する理論的限界を克服しなければならない。これは電極への物質移動の必要条件であり,表面特徴の拡散広がりをもたらす。本研究では,この限界を克服し,点拡散関数(PSF)に基づくデコンボリューションを用いて「超解像」画像を生成する手順を開発した。ここで,点導体は光イメージングにおける点エミッタと同じ役割を果たす。この目的に向けたSECMにおける以前の努力とは対照的に,この方法は有限要素モデルを用いてPSF推定のための一対の対応するぼけと鋭い画像を生成し,効果的なデコンボリューションのためのパラメータ最適化を行う必要がない。したがって,それはレトロアクティブデータ処理とSECMが提供する構造-特性関係の理解の強化に用いることができる。Copyright 2020 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： デコンボリューション ,  データ処理 ,  *超解像 ,  点像分布関数 ,  導体 ,  物質移動 ,  必要条件
準シソーラス用語： パラメータ最適化 ,  光イメージング ,  *走査型電気化学顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 分析機器  (CC02020S) ,  電気分析一般  (CC05010C)

タイトルに関連する用語 (2件)： 超解像 ,  走査電気化学顕微鏡