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J-GLOBAL ID：202002237156872602   整理番号：20A2258700

SAR ADCに基づく0.6±1.2V,0.22pJ/ビット真の乱数発生器【JST・京大機械翻訳】

0.6-1.2 V, 0.22 pJ/bit True Random Number Generator Based on SAR ADC

著者 (4件)： Jayaraj Akshay (Electrical Engineering Department, University at Buffalo, Buffalo, NY, USA) ,  Nitin Gujarathi Nimish (Electrical Engineering Department, University at Buffalo, Buffalo, NY, USA) ,  Venkatesh Illakiya (Electrical Engineering Department, University at Buffalo, Buffalo, NY, USA) ,  Sanyal Arindam (Electrical Engineering Department, University at Buffalo, Buffalo, NY, USA)
資料名： IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs  (IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻： 67  号： 10  ページ： 1765-1769  発行年： 2020年 
JST資料番号： W0347A  ISSN： 1549-7747  CODEN： ITCSFK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 逐次近似レジスタ(SAR)アナログディジタル変換器(ADC)に基づく真の乱数発生器(TRNG)を提案した。SAR ADCが変換を終えた後に,コンパレータを再び残し,残留物を量子化した。1ビット量子化残基は真のランダム配列として作用し,TRNGには付加的回路を必要としない。65nmプロセスで作製したプロトタイプは,0.6V-1.2V電源および-5°Cから50°Cの温度範囲で,キャリブレーションまたは後処理なしでTRNGとして作用した。TRNGは1.25Mbpsでランダムシーケンスを出力し,0.22pJ/ビットの最先端エネルギーを消費する。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 量子化 ,  逐次近似 ,  *乱数発生器 ,  レジスタ ,  コンパレータ ,  後処理 ,  AD変換器 ,  プロトタイプ
準シソーラス用語： 温度範囲 ,  残基 ,  *逐次比較型アナログ-ディジタルコンバータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 信号理論  (ND02020G) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (4件)： SAR ,  ADC ,  ビット ,  乱数発生器